[发明专利]一种数字集成电路测试总线接口

说明书

技术领域

本发明涉及数字集成电路测试技术领域，更具体地说，涉及一种数字集成电路测试总线接口。

背景技术

数字集成电路测试总线接口主要应用于测试设备中，其主要功能是为数字集成电路的测试系统与被测电路提供通信接口。数字集成电路的测试系统通过引出的测试总线来对被测电路进行控制、激励与响应。

现有的数字集成电路测试总线接口中一般含有120个左右的信号端，主要包括I/O（Input/Output输入/输出）信号端、电源信号端和地信号端，测试总线通过接插件与外界相连接。

但是当测试设备需要较多的信号端，如需要240个信号端时，因为测试总线增多，测试总线接口中I/O信号端、电源信号端和地信号端的无规律分布，使得测试总线在保证I/O信号、电源信号和地信号质量，及保证每个I/O信号周围至少有一个电源信号或地信号作为参考点的同时，还要通过高密度、高可靠的接插件引出，在技术上存在很大的难度。目前主要通过使用多个数字集成电路测试总线接口来满足对信号端数量的需求，给使用者带来很大的不便。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了一种数字集成电路测试总线接口，以使测试总线在保证I/O信号、电源信号和地信号质量的同时，增加测试总线接口中信号端的数量，以满足使用需求。

一种数字集成电路测试总线接口包括：N个信号单元，所述N个信号单元构成矩阵，所述N为不小于30的正整数，其中：

所述N个信号单元中的每个信号单元均包括有呈2×2矩阵均匀分布的四个信号端，所述N个信号单元中包括有A个第一信号单元和B个第二信号单元，其中，所述A和所述B均为正整数，且所述A和所述B的和等于所述N，

所述第一信号单元中包括三个I/O信号端和一个电源信号端，

所述第二信号单元中包括三个I/O信号端和一个地信号端，

其中，所述第一信号单元中电源信号端在自身所在2×2矩阵中的列位置和所述第二信号单元中地信号端在自身所在2×2矩阵中的列位置相同，所述第一信号单元中电源信号端在自身所在2×2矩阵中的行位置和所述第二信号单元中地信号端在自身所在2×2矩阵中的行位置不同，

在所述N个信号单元构成的矩阵中，将所述N个信号单元中的每个信号单元均作为所述矩阵中的元素时，每一列的信号单元均为所述第一信号单元或均为所述第二信号单元，每一行的信号单元均由所述第一信号单元和所述第二信号单元交替排列组成。

一种数字集成电路测试总线接口，包括：N个信号单元，所述N个信号单元构成矩阵，所述N为不小于30的正整数，其中：

所述N个信号单元中的每个信号单元均包括有呈2×2矩阵均匀分布的四个信号端，所述N个信号单元中包括有A个第一信号单元、B个第二信号单元和C个第三信号单元，其中所述A、所述B和所述C均为正整数，且所述A、所述B和所述C的和等于所述N，

所述第一信号单元中包括三个I/O信号端和一个电源信号端，

所述第二信号单元中包括三个I/O信号端和一个地信号端，

所述第三信号单元中包括三个I/O信号端和一个地信号端，

其中，所述第一信号单元中电源信号端在自身所在2×2矩阵中的列位置和所述第二信号单元中地信号端在自身所在2×2矩阵中的列位置相同，所述第一信号单元中电源信号端在自身所在2×2矩阵中的行位置和所述第二信号单元中地信号端在自身所在2×2矩阵中的行位置不同，

所述第二信号单元中地信号端在自身所在2×2矩阵中的列位置和所述第三信号单元中地信号端在自身所在2×2矩阵中的列位置相同，所述第二信号单元中地信号端在自身所在2×2矩阵中的行位置和所述第三信号单元中地信号端在自身所在2×2矩阵中的行位置不同，

在所述N个信号单元构成的矩阵中，将所述N个信号单元中的每个信号单元均作为所述矩阵中的元素时，在所述矩阵中有m行n列的情况下，

在所述矩阵中左侧的m行a列中，每一列的信号单元均为所述第一信号单元或均为所述第二信号单元，每一行的信号单元均由所述第一信号单元和所述第二信号单元交替排列组成，

在所述矩阵中右侧的m行b列中，每一列的信号单元均为所述第一信号单元或均为所述第二信号单元，每一行的信号单元均由所述第一信号单元和所述第二信号单元交替排列组成，

在所述矩阵中间的m行（n-a-b）列中，每一列的信号单元均为所述第二信号单元或均为所述第三信号单元，每一行的信号单元均由所述第二信号单元和所述第三信号单元交替排列组成，所述（n-a-b）为正整数，