[发明专利]试样分析装置及试样分析方法有效
申请号: | 201310015352.X | 申请日: | 2013-01-16 |
公开(公告)号: | CN103217536A | 公开(公告)日: | 2013-07-24 |
发明(设计)人: | 芝正树;西田智幸;若宫裕二 | 申请(专利权)人: | 希森美康株式会社 |
主分类号: | G01N35/00 | 分类号: | G01N35/00;G01N33/53 |
代理公司: | 北京市安伦律师事务所 11339 | 代理人: | 刘良勇 |
地址: | 日本兵库县神户市*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 试样 分析 装置 方法 | ||
1. 一种试样分析装置,包括:
测定部件,对试样进行测定,根据所述试样中的被检测成分的浓度生成测定值;
存储部件,存储用于定义所述测定部件生成的测定值与所述成分的浓度的关系的校准曲线;
分析部件;
输出部件;
指示接受部件,用于接受试样的测定指示;其中,
当所述指示接受部件收到标准试样的稀释测定的指示后,所述测定部件混合含有已知浓度的成分的标准试样和稀释液,以此按一定倍率稀释所述标准试样,并对稀释的标准试样进行测定,所述分析部件将从稀释的所述标准试样获得的测定值用于所述校准曲线,以此求出所述稀释的标准试样中的成分的浓度,所述输出部件输出根据所求出的浓度和所述已知浓度生成的信息。
2. 根据权利要求1所述的试样分析装置,其特征在于:
所述分析部件计算出所求出的浓度和所述已知浓度的浓度比。
3. 根据权利要求2所述的试样分析装置,其特征在于:
当测定以与稀释的所述标准试样相同的倍率稀释样本而制备的稀释样本时,所述分析部件用所述校准曲线将所述稀释样本的测定值换算成第一浓度,再以所述浓度比为校准系数乘以此第一浓度,以此求出所述样本中所含有的成分的浓度。
4. 根据权利要求2所述的试样分析装置,其特征在于:
当测定以与稀释的所述标准试样不同的倍率稀释样本而制备的稀释样本时,所述分析部件用所述校准曲线将所述稀释样本的测定值换算成第一浓度,再用以所述浓度比为基础设定的系数乘以所述第一浓度,以此求出所述样本中所含有的成分的浓度。
5. 根据权利要求1所述的试样分析装置,其特征在于:
所述分析部件根据浓度互不相同的数份标准试样的各自的浓度、以及在所述测定部件测定各标准试样所获得的测定值制作校准曲线。
6. 根据权利要求5所述的试样分析装置,其特征在于:
当制作校准曲线时,所述测定部件对数份标准试样分别进行数次测定,所述分析部件将数次测定中获得的数个测定值的平均值定为一个标准试样的代表测定值,根据所述代表测定值和已知浓度制作校准曲线。
7. 根据权利要求1所述的试样分析装置,其特征在于:
所述测定部件将制作校准曲线中使用的数份标准试样中用户选择的一份标准试样稀释为所述一定倍率,并进行测定。
8. 根据权利要求3所述的试样分析装置,其特征在于:
所述输出部件具有显示部件;
在所述显示部件显示用校准系数求得的样本中的成分的浓度时,所述显示部件在所述样本中的成分的浓度外还附加显示表示是用校准系数求出的信息。
9. 根据权利要求1所述的试样分析装置,其特征在于:
所述测定部件通过对试样进行光学测定来生成所述测定值。
10. 根据权利要求2所述的试样分析装置,其特征在于:
所述输出部件具有显示部件;
所述显示部件能够对比地显示所计算出的浓度比和为计算出所述浓度比而稀释标准试样时的稀释倍率。
11. 根据权利要求2所述的试样分析装置,其特征在于:
当所述浓度比与为求出所述浓度比而稀释标准试样时的稀释倍率不在一定关系中时,所述输出部件输出警告。
12. 根据权利要求5所述的试样分析装置,还包括:
运送部件,用于运送能够放置数个装试样的容器的架;其中,
装有数份标准试样的容器放置到架中且所述架由运送部件运送到测定部件后,测定部件连续进行对用于制作校准曲线的标准试样的测定和标准试样的稀释测定。
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