[发明专利]光电耦合件测试用夹具及光电耦合件测试方法有效
申请号: | 201310021297.5 | 申请日: | 2013-01-21 |
公开(公告)号: | CN103940583B | 公开(公告)日: | 2018-05-01 |
发明(设计)人: | 林致超 | 申请(专利权)人: | 凯联科技(深圳)有限公司 |
主分类号: | G01M11/00 | 分类号: | G01M11/00 |
代理公司: | 深圳市兰锋知识产权代理事务所(普通合伙)44419 | 代理人: | 曹明兰 |
地址: | 518000 广东省深圳市龙华区观澜*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光电 耦合 测试 夹具 方法 | ||
1.一种光电耦合件测试用夹具,其用于在测试一光电耦合件时夹持该光电耦合件,其特征在于:所述夹具包括一第一夹板及一与所述第一夹板相配合的第二夹板,所述第一夹板包括一上表面、一背离所述上表面的下表面及一第一侧面,所述第一夹板于所述上表面与所述第一侧面的交界处向所述下表面延伸开设有一收容槽,所述收容槽用于收容所述光电耦合件,所述第二夹板包括一顶面及一第二侧面,所述顶面向所述第二侧面延伸形成有一倾斜的斜面,所述斜面布设有一反射层,所述光电耦合件的一表面上的耦合透镜投影在所述反射层上。
2.如权利要求1所述的夹具,其特征在于:所述第一夹板的第一侧面靠近所述下表面位置沿垂直所述第一侧面方向向外延伸有两个定位块,两个所述定位块相互间隔,在两个定位块之间形成有一开口,所述第二夹板还包括一背离所述顶面的底面,所述第二夹板的底面沿垂直所述底面方向向下延伸有一个定位柱,所述定位柱的形状及尺寸分别与所述开口的形状及尺寸相对应,所述定位柱收容在所述开口内。
3.如权利要求2所述的夹具,其特征在于:所述上表面平行所述下表面,所述上表面及所述下表面均与所述第一侧面相垂直连接,所述顶面平行所述底面,所述顶面及所述底面均与所述第二侧面相垂直连接。
4.如权利要求2所述的夹具,其特征在于:两个定位块与所述第一夹板一体成型。
5.如权利要求2所述的夹具,其特征在于:两个所述定位块关于所述开口对称。
6.如权利要求1所述的夹具,其特征在于:所述反射层由不锈钢材料制成。
7.如权利要求1所述的夹具,其特征在于:所述反射层为一平面镜。
8.如权利要求1所述的夹具,其特征在于:所述顶面与所述斜面成一角度,所述角度为45度。
9.一种光电耦合件测试方法,其包括以下步骤:
提供一种光电耦合件及一如权利要求1-7任一项所述的夹具,所述光电耦合件包括一第一端面及一第一表面,所述第一表面与所述第一端面垂直相连,所述第一端面上延伸有一对定位凸柱,同时开设有一第一收容槽,所述第一收容槽包括一槽底,所述槽底上设置有多个第一耦合透镜,所述第一表面上开设有一个第二收容槽,所述第二收容槽的底部设置有多个对应于所述第一耦合透镜的第二耦合透镜;
将所述光电耦合件放入所述收容槽内,所述第一端面上的第一耦合透镜裸露于收容槽外,所述第二耦合透镜投影在所述反射层上;
所述第一耦合透镜和所述第二耦合透镜均与所述光电耦合件的第一端面上的所述定位凸柱为基准进行正位度量测。
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