[发明专利]光电耦合件测试用夹具及光电耦合件测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种光电耦合件测试用夹具及光电耦合件测试方法。

背景技术

光纤耦合连接器中的透镜单元一般包括两组透镜以及一个反射斜面，两组透镜分别是光纤侧以及基板侧，就光学设计的角度而言，这两组透镜的同心偏差一般大约在数微米之间，所以就成品的角度来说，透镜位置的正位度就十分重要，一般量测透镜的正位度是取其定位孔(柱)的中心为基准，然后再分别于两组透镜成品面以此基准进行透镜正位度的量测。

就以往的量测方式，光纤侧以及基板侧透镜分别于不同的成品面进行正位度的量测，但是以此方法进行量测会有基准面不同的问题，从而使的量测不准确。

发明内容

有鉴于此，有必要提供一种能提高测量精度的光电耦合件测试用夹具及光电耦合件测试方法。

一种光电耦合件测试用夹具，其用于在测试一光电耦合件时夹持该光电耦合件。所述夹具包括一第一夹板及一与所述第一夹板相配合的第二夹板。所述第一夹板包括一上表面、一背离所述上表面的下表面及一第一侧面。所述第一夹板于所述上表面与所述第一侧面的交界处向所述下表面延伸开设有一收容槽。所述收容槽用于收容所述光电耦合件。所述第二夹板包括一顶面及一第二侧面。所述顶面向所述第二侧面延伸形成有一倾斜的斜面。所述斜面布设有一反射层，所述光电耦合件的一表面上的耦合透镜投影在所述反射层上。

一种光电耦合件测试方法，其包括以下步骤：

提供一种光电耦合件及上述夹具，所述光电耦合件包括一第一端面及一第一表面，所述述第一表面与所述第一端面垂直相连，所述第一端面上延伸有一对定位凸柱，同时开设有一第一收容槽，所述第一收容槽包括一槽底，所述槽底上设置有多个第一耦合透镜，所述第一表面上开设有一个第二收容槽，所述第二收容槽的底部设置有多个对应于所述第一耦合透镜的第二耦合透镜；

将所述光电耦合件放入所述收容槽内，所述第一端面上的第一耦合透镜裸露于收容槽外，所述第二耦合透镜投影在所述反射层上；

所述第一耦合透镜和所述第二耦合透镜均与所述光电耦合件的第一端面上的所述定位凸柱为基准进行正位度量测。

相对于现有技术，由于所述第二耦合透镜投影在所述反射层上，进而可使所述第一耦合透镜和所述第二耦合透镜均可与所述光电耦合件的第一端面上的所述定位凸柱为基准进行透镜正位度的量测，由于采用同一个基准面，从而使得测量准确。

附图说明

图1是本发明实施方式的光电耦合件测试用夹具的立体组装结构图。

图2是图1中的夹具的分解图。

图3是图2的夹具的另一角度视图。

图4是图1的夹具的使用状态图。

图5是图4中的V部分放大图。

图6是本发明实施方式的光电耦合件测试方法的流程图。

主要元件符号说明