[发明专利]光学断层图像摄像设备及其控制方法

权利要求书

1.一种光学断层图像摄像设备，用于利用测量光照射被检体，并且基于通过将来自所照射的被检体的返回光与参考光进行合成所获得的光来获取所述被检体的断层图像，所述光学断层图像摄像设备包括：

测量光路长度改变部件，用于改变所述测量光的光路长度；

可移动部件，用于沿着光路移动用于将所述测量光聚焦到所述被检体的聚焦透镜；以及

控制部件，用于在改变所述断层图像的摄像区域的大小的情况下，使所述测量光路长度改变部件改变所述测量光的光路长度，并且控制所述可移动部件以与所述测量光的光路长度的改变相关联地移动所述聚焦透镜。

2.根据权利要求1所述的光学断层图像摄像设备，其中，所述控制部件使所述可移动部件将所述聚焦透镜移动与所述测量光的光路长度的改变相对应的长度。

3.根据权利要求1所述的光学断层图像摄像设备，其中，还包括用于指定所述断层图像的摄像区域的大小的部件，

其中，所述控制部件使所述测量光路长度改变部件将所述测量光的光路长度改变与所指定的大小的改变相对应的长度。

4.根据权利要求1所述的光学断层图像摄像设备，其中，还包括显示控制部件，所述显示控制部件用于使显示部件显示示出所述断层图像的摄像区域的大小的改变的显示形态。

5.根据权利要求1所述的光学断层图像摄像设备，其中，

所述被检体包括被检眼；以及

在获取所述被检眼的眼底的断层图像、并且之后获取所述被检眼的前眼部的断层图像的情况下，所述控制部件使所述测量光路长度改变部件将所述测量光的光路长度改变预定长度，以及在所述测量光的光路长度改变了所述预定长度、并且之后改变所述断层图像的摄像区域的大小的情况下，所述控制部件控制所述测量光路长度改变部件。

6.根据权利要求1所述的光学断层图像摄像设备，其中，还包括图像校正部件，所述图像校正部件用于根据所述测量光路长度改变部件要确定的所述测量光的光路长度来校正所述断层图像。

7.根据权利要求1所述的光学断层图像摄像设备，其中，

所述被检体包括被检眼；

所述光学断层图像摄像设备还包括前眼部观察部件，所述前眼部观察部件包括用于将光聚焦到所述被检眼的前眼部以使得能够观察所述前眼部的聚焦透镜；以及

所述控制部件使所述前眼部观察部件与所述测量光路长度改变部件所进行的所述测量光的光路长度的改变相关联地将光聚焦到所述前眼部。

8.根据权利要求1所述的光学断层图像摄像设备，其中，所述测量光路长度改变部件包括用于相对于所述被检体对包括所述测量光的光路和所述参考光的光路的光学系统进行移动的机构。

9.根据权利要求1所述的光学断层图像摄像设备，其中，还包括参考光路长度改变部件，所述参考光路长度改变部件用于改变所述参考光的光路长度，

其中，所述控制部件对所述参考光路长度改变部件进行控制以与所述测量光的光路长度的改变相关联地改变所述参考光的光路长度。

10.根据权利要求9所述的光学断层图像摄像设备，其中，所述控制部件对所述参考光路长度改变部件进行控制以使其将所述参考光的光路长度改变与所述测量光的光路长度的改变相对应的长度。

11.一种光学断层图像摄像设备的控制方法，所述光学断层图像摄像设备用于通过利用测量光照射被检体并且通过将来自所照射的被检体的返回光与参考光进行合成而获得干涉光来获取所述被检体的断层图像，所述控制方法包括：

在要改变所述断层图像的摄像区域的大小的情况下，改变所述测量光的光路长度；以及

与所述测量光的光路长度的改变相关联地沿着光路移动用于将所述测量光聚焦到所述被检体的聚焦透镜。

12.根据权利要求11所述的光学断层图像摄像设备的控制方法，其中，移动所述聚焦透镜包括将所述聚焦透镜移动与所述测量光的光路长度的改变相对应的长度。

13.根据权利要求11所述的光学断层图像摄像设备的控制方法，其中，还包括用于指定所述断层图像的摄像区域的大小的步骤，

其中，改变所述光路长度包括将所述测量光的光路长度改变与所指定的大小的改变相对应的长度。