[发明专利]光学断层图像摄像设备及其控制方法有效
申请号: | 201310030724.6 | 申请日: | 2013-01-25 |
公开(公告)号: | CN103222850A | 公开(公告)日: | 2013-07-31 |
发明(设计)人: | 青木博;吉田拓史;坂川幸雄 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
主分类号: | A61B3/14 | 分类号: | A61B3/14 |
代理公司: | 北京魏启学律师事务所 11398 | 代理人: | 魏启学 |
地址: | 日本东京都大*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光学 断层 图像 摄像 设备 及其 控制 方法 | ||
技术领域
本发明涉及光学断层图像摄像设备及其控制方法。例如,本发明涉及用于眼科诊疗的光学断层图像摄像设备及其控制方法。
背景技术
近年来,通过使用光来形成要测量的物体的表面和内部的图像的光学图像测量技术已经受到关注。不像传统的X射线CT,光学图像测量技术对人体没有侵害性,因此,特别期望将其应用于医学领域。尤其是,其在眼科领域的应用的进展显著。
作为光学图像测量技术的典型处理,存在一种被称为光学相干断层成像(OCT)的处理。根据该处理,由于使用干涉仪来比较反射光束和参考光束,因此可以进行具备高分辨率和高感光度的测量。还存在如下优点:由于使用宽的带内的非常微弱的光作为照明光,因此,对于被检体具有较高的安全性。
使用利用光学干涉的光学相干断层成像(OCT)的光学断层图像摄像设备(下文中称为“OCT设备”)是能够获取样本的高分辨率断层图像的设备,特别地,涉及用于形成被检眼的前眼部的图像的前眼部光学断层图像摄像设备。
OCT设备能够利用作为低相干光的测量光来照射样本,并且通过使用(光学)干涉系统、利用高感光度测量来自样本的背向散射光(backscattered light)。另外,OCT设备可以通过使用测量光扫描样本来获取高分辨率的断层图像。由此,获取被检眼的前眼部内的角膜部位的断层图像并且将其用于眼科诊断等。
在这样的眼科设备中,为了拍摄图像,将设备的检查部(即,光学测量系统)与被检眼的角膜部位的前眼部和光学干涉系统的拍摄位置进行匹配,并且以预定距离对准被检眼和该设备。
日本特开2009-22502描述了能够把握角膜中的图像的深度位置并且能够确定角膜细胞的异常状态的角膜观察设备。在角膜观察设备中,移动参考镜,以拍摄前眼部的角膜上皮、Bowman层、角膜基质层、Descemet层或者角膜表皮层的各个部位的图像。另外,将被检眼和角膜观察设备之间的距离设置为与各个拍摄部位有关的预定长度,并且移动参考镜以进行实际拍摄。
另外,日本特开2011-147612描述了能够拍摄前眼部断层图像和眼底断层图像的光学断层图像摄像设备。该设备是涉及移动光学干涉系统中的参考镜、以将光学干涉系统的拍摄位置移动到根据前眼部拍摄模式和眼底拍摄模式的预定位置的眼科拍摄设备。该眼科拍摄设备具有如下结构:在前眼部拍摄模式中,将参考镜移动到预定位置,并且在此期间,将被检眼和眼科拍摄设备之间的距离设为预定长度并且不改变。
在这种情况下,当试图获取前眼部中的期望部位的断层图像时,通常需要通过移动固视灯来获得该期望部位位于与摄像位置相对应的部分的状态,并且进一步获得合适的聚焦状态。在这种情况下,为了获得期望状态,给被检者带来负担或者操作上困难是不可避免的。另外,作为另一方面,还可以想到从拍摄到的断层图像中切出期望的部位并且对该部位进行电子锐化。然而,放大所引起的分辨率降低、锐化所需的时间增加等是不可避免的。
发明内容
鉴于上述问题,本发明的目的在于提供能够容易地对被检体的断层图像的摄像区域的大小进行改变的光学断层图像摄像设备及其控制方法。
本发明提供一种如下配置的光学断层图像摄像设备。
换言之,根据本发明,提供一种光学断层图像摄像设备,用于利用测量光照射被检体,并且基于通过将来自所照射的被检体的返回光与参考光进行合成所获得的光来获取所述被检体的断层图像,所述光学断层图像摄像设备包括:测量光路长度改变部件,用于改变所述测量光的光路长度;可移动部件,用于沿着光路移动用于将所述测量光聚焦到所述被检体的聚焦透镜;以及控制部件,用于在改变所述断层图像的摄像区域的大小的情况下,使所述测量光路长度改变部件改变所述测量光的光路长度,并且控制所述可移动部件以与所述测量光的光路长度的改变相关联地移动所述聚焦透镜。
根据本发明的第二方面,提供一种光学断层图像摄像设备的控制方法,所述光学断层图像摄像设备用于通过利用测量光照射被检体并且通过将来自所照射的被检体的返回光与参考光进行合成而获得干涉光来获取所述被检体的断层图像,所述控制方法包括:在要改变所述断层图像的摄像区域的大小的情况下,改变所述测量光的光路长度;以及与所述测量光的光路长度的改变相关联地沿着光路移动用于将所述测量光聚焦到所述被检体的聚焦透镜。
根据以下参考附图的典型实施例的说明,本发明的其它特征将变得明显。
附图说明
图1是示出根据本发明实施例的整个设备的图。
图2是示出根据本发明实施例的光学测量系统结构的图。
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