[发明专利]一种薄膜晶体管阵列基板及其制作方法有效
申请号: | 201310031368.X | 申请日: | 2013-01-28 |
公开(公告)号: | CN103107140A | 公开(公告)日: | 2013-05-15 |
发明(设计)人: | 李凡;董向丹 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;成都京东方光电科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/84 | 分类号: | H01L21/84;H01L27/12;H01L23/50 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 黄灿;安利霞 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 薄膜晶体管 阵列 及其 制作方法 | ||
技术领域
本发明涉及液晶显示技术领域,特别是指一种薄膜晶体管阵列基板及其制作方法。
背景技术
以TFT-LCD(薄膜晶体管-液晶显示装置)为代表的液晶显示,作为一种重要的平板显示,近年来得到了飞速的发展,受到了广泛的关注。
现有技术中,普遍采用的6次掩膜(mask)制备工艺,虽然相对于传统的7mask工艺要简单,但是仍然存在工艺流程复杂,产能和设备利用效率不高等缺陷。
传统的6次掩膜(mask)制备阵列基板的工艺中,在完成源漏电极和数据线的图形后,需要沉积像素ITO,并对像素ITO进行一次掩膜工艺,得到像素电极,之后再沉积钝化层,并在钝化层上进行一次掩膜工艺,制作过孔;再在钝化层上沉积公共电极ITO,再进行一次掩膜工艺,制作公共电极的图形。
该工艺中,在制作像素电极和公共电极时,分别用两次掩膜工艺,步骤繁琐,产能低。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种薄膜晶体管阵列基板及其制作方法,减少制作薄膜晶体管阵列基板的掩膜工艺步骤,提高产能和降低成本。
为解决上述技术问题,本发明的实施例提供一种薄膜晶体管阵列基板的制作方法,包括以下步骤:
S11,在衬底基板上依次形成栅线图形,栅绝缘层,有源层图形,源、漏电极及数据线图形,钝化层图形;
S12,在形成有所述钝化层的衬底基板上形成透明导电薄膜,由一次构图工艺形成包括像素电极、公共电极的图形,其中,所述像素电极与所述漏电极连接。
其中,所述步骤S11包括:
S111,提供一衬底基板;
S112,在所述衬底基板上形成金属薄膜,由构图工艺形括栅线的图形;
S113,在完成步骤S112的衬底基板上形成栅绝缘层;
S114,在所述栅绝缘层上形成半导体薄膜,由构图工艺形成包括位于栅绝缘层上的有源层的图形;
S115,在完成步骤S114的衬底基板上形成数据金属层薄膜,由构图工艺对所述数据金属层薄膜进行处理,形成位于所述有源层上的源电极、漏电极的图形,并形成数据线的图形;
S116,在完成步骤S115的衬底基板上形成钝化层,由构图工艺形成所述钝化层上的过孔。
其中,所述步骤S112包括:
在所述衬底基板上形成金属薄膜;
利用掩模板通过构图工艺对所述金属薄膜进行处理,形成栅线的图形。
其中,所述步骤S114包括:
在所述栅绝缘层上形成半导体薄膜;
采用掩模板通过构图工艺对所述半导体薄膜进行处理,形成包括位于栅绝缘层上的有源层图形。
其中,所述步骤S115包括:
在所述有源层上形成数据金属层薄膜;
采用掩模板通过构图工艺对所述数据金属层薄膜进行处理,形成位于所述有源层上的源电极、漏电极的图形,并形成数据线的图形。
其中,所述步骤S116包括:
在露出的所述栅绝缘层上、所述源电极上、所述漏电极上形成钝化层;
由掩模板的构图工艺形成相对于像素区域的贯穿所述钝化层的过孔以及漏电极区域的贯穿所述钝化层的过孔,并漏出所述栅绝缘层。
其中,所述步骤S12包括:
在完成步骤S11的钝化层上形成透明导电薄膜;
采用掩模板通过构图工艺对所述透明导电薄膜进行处理,形成包括像素电极、公共电极的图形;
利用刻蚀工艺将所述公共电极与所述像素电极刻蚀断开。
其中,上述的薄膜晶体管阵列基板的制作方法还包括:
S13,利用平坦化层或者树脂层将步骤S12完成的衬底基板上的空隙填平。
其中,上述薄膜晶体管阵列基板的制作方法还包括:
S14,在步骤S13完成的衬底基板上涂覆摩擦取向层。
本发明的实施例还提供一种薄膜晶体管阵列基板,所述阵列基板为按照如上所述的方法制作而成。
本发明的上述技术方案的有益效果如下:
上述方案中,通过在制作像素电极和公共电极的时候,将其合并为一次工艺制成,然后利用公共电极的构图工艺将像素电极和公共电极刻蚀断开,从而使阵列基板的制作工艺由原来的6构图工艺简化为5构图工艺,从而达到减少工艺步骤的目的,,使阵列基板的制作成本降低,并提高产能。
附图说明
图1为本发明的阵列基板的制作方法中,栅金属层经过第一次掩膜工艺形成栅线以及存储电容的底电极的剖面图;
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于京东方科技集团股份有限公司;成都京东方光电科技有限公司,未经京东方科技集团股份有限公司;成都京东方光电科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310031368.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:丹酚酸A组合物用于制备保护脑血管内皮细胞药物的用途
- 下一篇:一种干式变压器
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造