[发明专利]连接叠层结构的导电层的中间连接件的形成方法有效

专利信息
申请号: 201310037472.X 申请日: 2013-01-31
公开(公告)号: CN103972151A 公开(公告)日: 2014-08-06
发明(设计)人: 陈士弘 申请(专利权)人: 旺宏电子股份有限公司
主分类号: H01L21/768 分类号: H01L21/768
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 任岩
地址: 中国台湾新竹*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 连接 结构 导电 中间 形成 方法
【权利要求书】:

1.一种方法,使用于一电子装置,该电子装置包括一叠层结构,该叠层结构包括多个导电层,该多个导电层与多个介电层交错排列,该方法用以形成多个中间连接件,该多个中间连接件延伸至对应的该多个导电层的一部分,该方法包括:

移除于该叠层结构中部分的该多个导电层及该多个介电层,以形成多个着陆区域,该多个着陆区域没有迭加该叠层结构的该多个导电层,其中W为该多个导电层的数量,移除的步骤包括:

使用一组M个刻蚀掩模刻蚀该多个介电层/导电层的该叠层结构,以暴露该多个着陆区域于W-1个导电层,该多个刻蚀掩模具有多个掩模区域及间隔的多个开口刻蚀区域,M大于或等于2,NM少于或等于W,N为大于或等于3的整数;

在该组刻蚀掩模中的各该刻蚀掩模m,其中m从0到M-1:

(a)形成该刻蚀掩模m位于一接触区域之上,该刻蚀掩模具有该多个开口刻蚀区域,该多个开口刻蚀区域位于部份该多个着陆区域之上;

(b)于该刻蚀掩模m的该多个开口刻蚀区域中刻蚀Nm个导电层;

(c)削减该刻蚀掩模m,以增加该多个开口刻蚀区域的尺寸,该多个开口刻蚀区域迭加多个额外的接触开口;

(d)于已增加尺寸的该多个开口刻蚀区域,刻蚀Nm个该多个导电层;以及

(g)若N大于3,重复N-3次削减步骤(c)及刻蚀步骤(d);

藉此,以不同刻蚀掩模的组合暴露出该多个导电层上的该多个着陆区域。

2.根据权利要求1所述的方法,更包括:

设置一介质填充物于该多个着陆区域之上;

向下形成该多个接触开口至该多个着陆区域,该多个接触开口贯穿该介质填充物;以及

以一导电材料填充该多个接触开口,以形成该多个中间连接件。

3.根据权利要求1所述的方法,更包括选择N,N等于2加上各个刻蚀掩模的削减刻蚀掩模的步骤的次数。

4.根据权利要求1所述的方法,其中各该刻蚀掩模0具有一0掩模宽度,该0掩模宽度具有一开口刻蚀区域,该开口刻蚀区域具有一开口区域宽度,该开口区域宽度等于该0掩模宽度除以N。

5.根据权利要求1所述的方法,其中各该刻蚀掩模具有一掩模宽度,该掩模宽度具有一开口刻蚀区域,该开口刻蚀区域具有一开口区域宽度,该开口区域宽度等于该掩模宽度除以N。

6.根据权利要求1所述的方法,其中于形成该刻蚀掩模的步骤(a)中,该刻蚀掩模覆盖Nm+1个该多个着陆区域,且该开口刻蚀区域覆盖Nm个该多个着陆区域。

7.根据权利要求1所述的方法,其中于形成该刻蚀掩模的步骤(a)中,该开口刻蚀区域在Nm个该多个着陆区域之上。

8.根据权利要求1所述的方法,其中W=27且N=3以至于:

m=1时;

刻蚀的步骤(b)是刻蚀1层导电层;及

刻蚀的步骤(d)是刻蚀1层导电层;

m=2时:

刻蚀的步骤(b)是刻蚀3层导电层;及

刻蚀的步骤(d)是刻蚀3层导电层;

m=3时:

刻蚀的步骤(b)是刻蚀9层导电层;及

刻蚀的步骤(d)是刻蚀9层导电层。

9.根据权利要求1所述的方法,其中削减的步骤使得已增大尺寸的开口刻蚀区域覆盖额外1/N个该多个着陆区域。

10.根据权利要求1所述的方法,其中该装置包括该叠层结构的一表面,且该方法更包括在移除的步骤的执行过程中,遮蔽该表面的一部份,以产生没有接触开口的多个虚拟区域。

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