[发明专利]石英晶片频率分选机及分选方法无效
申请号: | 201310039580.0 | 申请日: | 2013-02-01 |
公开(公告)号: | CN103071630A | 公开(公告)日: | 2013-05-01 |
发明(设计)人: | 王维锐;刘木林;王均晖;张林友 | 申请(专利权)人: | 浙江大学台州研究院 |
主分类号: | B07C5/344 | 分类号: | B07C5/344;B07C5/02;B07C5/36 |
代理公司: | 台州市南方商标专利事务所(普通合伙) 33225 | 代理人: | 白家驹 |
地址: | 317600 浙江省台州*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 石英 晶片 频率 分选 方法 | ||
1.一种石英晶片频率分选机,其特征在于:包括进料模块(1)、分料模块(2)、测频模块(3)、分选模块(5),进料模块(1)将晶片输送至分料模块(2),分料模块(2)将晶片传递给测频模块(3)对晶片进行频率测量;分选模块(5)根据测频模块(3)的测量结果将晶片分选至不同的工位盒(29)内。
2.根据权利要求1所述的石英晶片频率分选机,其特征在于:所述进料模块(1)包括进料模块底架(7),进料模块底架(7)上设置有进料电机(8),进料电机(8)通过连接法兰(9)连接料筒(10),料筒(10)内设置有螺旋槽,料筒(10)的出口设置有进料漏斗(11);进料漏斗(11)设置于所述分料模块(2)的上方;
进料电机(8)驱动料筒(10)旋转,晶片被料筒(10)内的螺旋槽导出到进料漏斗(11)上,并滑入分料模块(2)上。
3.根据权利要求2所述的石英晶片频率分选机,其特征在于:所述进料模块底架(7)固定设置于台面板(20)上;所述料筒(10)的轴线与台面板(20)之间成一夹角。
4.根据权利要求1所述的石英晶片频率分选机,其特征在于:所述分料模块(2)包括分料盘(13),分料盘(13)固定连接分料轴系(12),分料轴系(12)通过分料电机实现驱动;所述进料漏斗(11)设置于分料盘(13)的上方;
分料盘(13)的上方设置有光源(14)和成像机构(15);通过成像机构(15)的成像,确定分料盘(13)上晶片的位置;
分料盘(13)的一侧设置有滑台(18),滑台(18)通过滑台电机(19)实现驱动;滑台(18)的滑动块连接抓取机械手(17);
来自于进料模块(1)的晶片洒落在分料盘(13)上;在分料轴系(12)和滑台(18)的配合下定位晶片,通过抓取机械手(17)抓取晶片到测频模块(3)上。
5.根据权利要求1所述的石英晶片频率分选机,其特征在于:所述测频模块(3)包括测量下电极(25),测量下电极(25)设置有循环配气模块,测量下电极(25)通过循环配气模块能够将晶片单独吸附于其上;
测量下电极(25)固定连接测量轴系(26);通过电机(27)驱动测量轴系(26)上的测量下电极(25)转动,使测量下电极(25)在测量工位与进出片工位之间切换;
测量下电极(25)上设置有水银滑环(24),水银滑环(24)用于连接测量下电极(25),传递测频电信号;
测量下电极(25)的测量工位设置有测量上电极(23);测量上电极(23)通过微分头(22)固定设置于测量上电极座(21)上;微分头(22)能够带动测量上电极(23)进行上下高度的微调;当测量下电极(25)处于测量工位时,对测量上电极(23)与测量下电极(25)之间的晶片进行频率测量。
6.根据权利要求5所述的石英晶片频率分选机,其特征在于:所述电机(27)驱动测量下电极(25)处于进出片工位,机械手(17)将晶片抓取至测频模块(3)的测量下电极(25)上,测量下电极(25)通过循环配气模块吸附晶片;
电机(27)驱动测量下电极(25)转动,将吸附于测量下电极(25)的晶片送至测量工位;循环配气模块释放晶片,测量上电极23与测量下电极25配合,测量晶片的频率;
循环配气模块再次吸附测量后的晶片,电机(27)驱动测量下电极(25)转动,将晶片从测量工位送出。
7.根据权利要求1所述的石英晶片频率分选机,其特征在于:所述分选模块(5)包括多个分选机械手(28),多个分选机械手(28)的固定端连接分选轴系(31);
分选机械手(28)的自由端活动区域下方设置有多个工位盒(29);各工位盒(29)用于盛放不同频率的晶片;
分选轴系(31)在分选电机(30)的驱动下带动分选机械手(28)绕其固定端转动,使分选机械手(28)的自由端在进出片工位与各工位盒(29)之间切换;
分选机械手(28)抓取在测频模块(3)的进出片工位上的晶片,根据晶片的测量结果,将晶片放入对应的工位盒(29)内。
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