[发明专利]故障地址检测器、半导体存储器件及检测故障地址的方法

权利要求书

1.一种故障地址检测器，包括：

CAM锁存器组，所述CAM锁存器组被配置成分别储存故障地址，所述故障地址中的每个指示缺陷区域；以及

比较部，所述比较部与所述CAM锁存器组共同地连接，并且被配置成检测在从所述CAM锁存器组接收的故障地址之中是否存在与比较地址相对应的故障地址，

其中，所述CAM锁存器组被配置成通过将所述故障地址顺序地传送到所述比较部来以时分的方式共用所述比较部，

其中，所述CAM锁存器组被配置成分别接收CAM使能信号，所述CAM使能信号被顺序地激活，以及

其中，所述CAM锁存器组分别响应于所述CAM使能信号来将所述故障地址顺序地传送到所述比较部。

2.如权利要求1所述的故障地址检测器，还包括：

修复地址提供部，所述修复地址提供部与所述比较部连接，并且配置成当存在与所述比较地址相对应的故障地址时提供修复地址。

3.如权利要求1所述的故障地址检测器，其中，所述CAM锁存器组中的每个被配置成不接收所述比较地址。

4.如权利要求1所述的故障地址检测器，其中，所述比较部包括：

逻辑运算块，所述逻辑运算块被配置成检测所述比较地址的数据比特是否与从所述CAM锁存器组中的每个接收的故障地址的相对应的数据比特相同；以及

检测块，所述检测块被配置成根据所述逻辑运算块的检测结果来输出检测信号。

5.如权利要求4所述的故障地址检测器，还包括：

修复地址提供部，所述修复地址提供部与所述比较部连接，并且被配置成响应于时钟信号而顺序地产生修复地址，以及根据所述检测信号来提供地址使能信号。

6.如权利要求5所述的故障地址检测器，其中，所述故障地址检测器被配置成根据所述地址使能信号而在顺序地产生的修复地址之中确定与所述比较地址相对应的修复地址。

7.如权利要求1所述的故障地址检测器，其中，所述CAM锁存器组中的每个包括用于储存相对应的故障地址的数据比特的锁存器电路。

8.如权利要求7所述的故障地址检测器，其中，所述锁存器电路中的每个包括：

锁存器；

第一晶体管和第二晶体管，所述第一晶体管和所述第二晶体管串联连接在所述锁存器的第一节点与参考节点之间；以及

第三晶体管，所述第三晶体管连接在所述锁存器的第二节点与输出节点之间，以及

其中，所述第一晶体管被配置成响应于读取控制信号而导通，所述第二晶体管被配置成响应于相对应的故障地址的数据比特中的一个而导通或关断，所述第三晶体管被配置成响应于相对应的CAM使能信号而导通。

9.一种检测故障地址的方法，所述方法包括以下步骤：

分别将故障地址加载到CAM锁存器组，所述故障地址中的每个指示缺陷区域；

分别响应于被顺序地激活的CAM使能信号来将所述故障地址顺序地提供给与所述CAM锁存器组共同连接的比较部；以及

将从所述CAM锁存器组提供给所述比较部的故障地址与比较地址顺序地比较，以检测在所述故障地址之中是否存在与所述比较地址相对应的故障地址。

10.如权利要求9所述的方法，还包括以下步骤：

当存在与所述比较地址相对应的故障地址时，提供修复地址。

11.如权利要求9所述的方法，还包括以下步骤：

当存在与所述比较地址相对应的故障地址时，输出检测信号。

12.如权利要求11所述的方法，还包括以下步骤：

响应于时钟信号而顺序地产生修复地址；以及

响应于所述检测信号而产生地址使能信号。

13.如权利要求12所述的方法，还包括以下步骤：

根据所述地址使能信号而在顺序地产生的修复地址之中确定与所述比较地址相对应的修复地址。

14.如权利要求13所述的方法，其中，在所述确定步骤中，将所述地址使能信号激活时产生的修复地址确定为与所述比较地址相对应的修复地址。