[发明专利]用于成像像素的黑色电平校正的方法和系统有效
申请号: | 201310050782.5 | 申请日: | 2013-02-08 |
公开(公告)号: | CN103248836A | 公开(公告)日: | 2013-08-14 |
发明(设计)人: | 张光斌 | 申请(专利权)人: | 全视科技有限公司 |
主分类号: | H04N5/361 | 分类号: | H04N5/361 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 齐杨 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 成像 像素 黑色 电平 校正 方法 系统 | ||
1.一种用于获得经校正的像素值的方法,所述方法包括:
测量像素阵列的暗校准像素的第一暗电流;
测量所述像素阵列的成像像素的第二暗电流;
基于所述第一暗电流和所述第二暗电流来计算暗电流比率;
用所述成像像素获取在第一时间周期上积累的图像电荷;
用所述暗校准像素获取在第二时间周期上积累的电荷,所述第二时间周期大概等于所述第一时间周期除以所述暗电流比率;以及
使用来自所述成像像素的第一读出和来自所述暗校准像素的第二读出来计算经校正的成像像素值。
2.根据权利要求1所述的方法,其中在物理上对所述暗校准像素进行遮光,并且将其设置在包含所述成像像素的成像区域外部,所述成像区域能够被暴露于周围光。
3.根据权利要求1所述的方法,其中所述第一读出对应于所述成像像素因为在所述第一时间周期上入射在所述成像像素上的光而积累的所述图像电荷,且所述第二读出对应于所述黑校准像素在所述第二时间周期上积累的所述电荷。
4.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括:
测量至少一第二暗校准像素的第三暗电流,其中计算所述暗电流比率包含组合所述第一暗电流与所述第三暗电流。
5.根据权利要求1所述的方法,其中计算所述经校正的成像像素值包含从所述第一读出中减去所述第二读出。
6.根据权利要求1所述的方法,其中用所述成像像素获取所述图像电荷和用所述暗校准像素获取所述电荷包含:
将第一曝光信号传输到所述成像像素和所述暗校准像素;以及
将复位信号后接第二曝光信号传输到所述暗校准像素,以使得在所述暗电流比率大于一的情况下,所述第二时间周期比所述第一时间周期短。
7.根据权利要求6所述的方法,其中所述第一曝光信号和所述第二曝光信号是第一电压电平,且其中所述复位信号是不同于所述第一电压电平的第二电压电平。
8.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括将所述暗电流比率存储在通信地耦合到处理器的存储器。
9.根据权利要求1所述的方法,其中当相机的机械快门关闭时完成测量所述第一暗电流和测量所述第二暗电流,且其中所述像素阵列设置在所述相机中。
10.一种非暂时性机器可存取存储媒体,其提供指令,所述指令在由成像系统执行时,将使得所述成像系统执行包括以下各项的操作:
测量像素阵列的暗校准像素的第一暗电流;
测量所述像素阵列的成像像素的第二暗电流;
基于所述第一暗电流和所述第二暗电流来计算暗电流比率;
用成像像素获取图像电荷,其中所述成像像素在第一时间周期上积累所述图像电荷;
用所述暗校准像素获取电荷,其中所述暗校准像素在第二时间周期上积累所述电荷,所述第二时间周期大概等于所述第一时间周期除以所述暗电流比率;以及
使用来自所述成像像素的第一读出和来自所述暗校准像素的第二读出来计算经校正的成像像素值。
11.根据权利要求10所述的非暂时性机器可存取存储媒体,其中所述暗校准像素在物理上被遮光,并且设置在包含所述成像像素的成像区域外部,所述成像区域能够被暴露于周围光。
12.根据权利要求10所述的非暂时性机器可存取存储媒体,其中所述第一读出对应于所述成像像素因为在所述第一时间周期上入射在所述成像像素上的光而积累的所述图像电荷,且所述第二读出对应于所述黑校准像素在所述第二时间周期上积累的所述电荷。
13.根据权利要求10所述的非暂时性机器可存取存储媒体,其进一步提供指令,所述指令在由所述成像系统执行时,将使得所述成像系统执行包括以下各项的进一步的操作:
测量至少一第二暗校准像素的第三暗电流,其中计算所述暗电流比率包含组合所述第一暗电流与所述第三暗电流。
14.根据权利要求10所述的非暂时性机器可存取存储媒体,其中计算所述经校正的成像像素值包含从所述第一读出中减去所述第二读出。
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