[发明专利]纱线缺陷检测装置及纱线卷绕机无效

专利信息
申请号: 201310051189.2 申请日: 2013-02-16
公开(公告)号: CN103359546A 公开(公告)日: 2013-10-23
发明(设计)人: 川畑智史;仲井政人 申请(专利权)人: 村田机械株式会社
主分类号: B65H63/06 分类号: B65H63/06
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 庞乃媛;黄剑锋
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 纱线 缺陷 检测 装置 卷绕
【权利要求书】:

1.一种纱线缺陷检测装置,具备:

检测部,具有对纱线行走的纱道从第1方向投光的第1投光部、在上述第1方向上夹着上述纱道而与上述第1投光部相对置配置的第1受光部、以及配置在与上述第1受光部不同的位置上的第2受光部;

第1放大部,放大由上述第1投光部投光、被上述第1受光部受光的第1光的检测信号来生成第1信号,并输出该第1信号;

第2放大部,放大由上述第1投光部投光、被上述第2受光部受光的第2光的检测信号来生成第2信号,并输出该第2信号;以及,

控制部,根据上述第1信号进行上述第1放大部中的放大率的调整即第1调整处理,从而确定上述第1放大部中的上述放大率,然后,以确定了上述第1放大部中的上述放大率时的控制值使上述第1投光部发光,根据上述第2信号进行上述第2放大部中的放大率的调整即第2调整处理。

2.如权利要求1所述的纱线缺陷检测装置,上述检测部还具有在与上述第1方向不同的第2方向上夹着上述纱道与上述第2受光部相对置配置、对上述纱道从上述第2方向投光的第2投光部;

上述第1放大部进行:由上述第1投光部投光、被上述第1受光部受光的第1光的检测信号的放大;由上述第2投光部投光、被上述第2受光部受光的第3光的检测信号的放大;通过将放大后的上述第1光的检测信号和上述第3光的检测信号相加带来的第1信号的生成;以及该第1信号的输出;

上述第2放大部进行:由上述第1投光部投光、被上述第2受光部受光的第2光的检测信号的放大;由上述第2投光部投光、被上述第1受光部受光的第4光的检测信号的放大;通过将放大后的上述第2光的检测信号和上述第4光的检测信号相加带来的第2信号的生成;以及该第2信号的输出。

3.如权利要求1或2所述的纱线缺陷检测装置,上述控制部调整用于上述第1投光部的发光的控制值,在进行了与上述第1受光部所受光的上述第1光的检测信号相对应的输出值的零点修正后,进行上述第1调整处理。

4.如权利要求2所述的纱线缺陷检测装置,上述控制部调整用于上述第1投光部和上述第2投光部中的至少一个的发光的控制值,在进行了与上述第1受光部所受光的上述第1光的检测信号相对应的输出值和与上述第2受光部所受光的上述第3光的检测信号相对应的输出值中的至少一个的零点修正后,进行上述第1调整处理。

5.如权利要求1至4中的任一项所述的纱线缺陷检测装置,上述控制部在通过偏置调整进行了与上述第2受光部所受光的上述第2光的检测信号相对应的输出值的零点修正后,进行上述第2调整处理。

6.如权利要求2至4中的任一项所述的纱线缺陷检测装置,上述控制部在通过偏置调整进行了与上述第2受光部所受光的上述第2光的检测信号相对应的输出值和/或与上述第1受光部所受光的上述第4光的检测信号相对应的输出值的零点修正后,进行上述第2调整处理。

7.如权利要求1至6中的任一项所述的纱线缺陷检测装置,在上述检测部的上述纱道的空间内能够插入具有第1光反射率的第1色的第1线状体和具有与上述第1光反射率不同的第2光反射率的第2色的第2线状体;

上述控制部使与上述第1线状体或上述第2线状体被配置到了上述纱道中时的上述第1信号相对应的输出值成为预定的第1基准输出值地进行上述第1调整处理;然后,使与上述第1线状体被配置到了上述纱道中时的上述第2信号相对应的输出值同与上述第2线状体被配置到了上述纱道中时的上述第2信号相对应的输出值之差成为预定的第2基准输出值地进行上述第2调整处理。

8.一种纱线卷绕机,具备:权利要求1至7中的任一项所述的纱线粗细缺陷检测装置;以及,在上述纱线的行走方向上配置在上述纱线缺陷检测装置的下游侧、卷绕上述纱线的卷绕装置。

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