[发明专利]纱线缺陷检测装置及纱线卷绕机

说明书

技术领域

本发明涉及纱线缺陷检测装置及纱线卷绕机。

背景技术

以往，纺纱机及纱线卷绕机中设置有用来检测纱线的状态的清纱器。清纱器具备用来检测纱线粗细的检测器。该检测器具备发光部和受光部，将与用受光部受光从发光部输出的光时的受光量相对应的电压作为检测信号而输出。

日本特开2000-327226号公报中记载有对多个清纱器以一台的比例设置的灵敏度调整装置。该灵敏度调整装置按清纱器从纱线行走时的检测值的平均值计算纱线行走基准值，根据将检测值与纱线行走基准值比较了的结果增减检测器的驱动信号。通过该驱动信号的调整，即使产生了按检测器而不同的温度变化、时效变化时，也能够修正各检测器的检测灵敏度。

可以考虑检测透射光（第1光）和反射光（第2光）型的清纱器（纱线缺陷检测装置）。此时，设置检测透射光的受光部和检测反射光的受光部。投光部兼作透射光用的光源和反射光用的光源。

但是，上述现有技术中没有考虑投光部兼作透射光用的光源和反射光用的光源这一点。因此，在投光部兼作透射光用的光源和反射光用的光源时，精度良好地调整检测部的增益困难。

发明内容

本发明以提供一种在投光部兼作第1光用的光源和第2光用的光源时能够精度良好地调整检测部的增益的纱线缺陷检测装置和纱线卷绕机为目的。

本发明的纱线缺陷检测装置具备检测部、第1放大部、第2放大部和控制部。检测部具有对纱线行走的纱道从第1方向投光的第1投光部，在第1方向上夹着上述纱道与第1投光部相对置配置的第1受光部，配置在与第1受光部不同的位置上的第2受光部。第1放大部放大由第1投光部投光、被第1受光部受光的第1光的检测信号来生成第1信号，并输出第1信号。第2放大部放大由第1投光部投光、被第2受光部受光的第2光的检测信号来生成第2信号，并输出第2信号。控制部根据第1信号进行第1放大部中的放大率的调整即第1调整处理，确定第1放大部中的放大率，然后，以确定了第1放大部中的放大率时的控制值使第1投光部发光，根据第2信号进行第2放大部中的放大率的调整即第2调整处理。

该纱线缺陷检测装置中第1受光部为检测第1光的受光部，第2受光部为检测第2光的受光部。第1投光部兼作第1光用的光源和第2光用的光源。根据该纱线缺陷检测装置，在用控制部调整第1放大部中的放大率及第2放大部中的放大率时根据第1信号调整第1放大部中的放大率，然后根据第2信号调整第2放大部中的放大率。因此，调整第2放大部中的放大率在调整了第1放大部中的放大率之后。由此，第1投光部的光量已经调整完，第1投光部的光量成为固定。由此，防止第2信号的增益意外地变化了。因此，在投光部兼作第1光用的光源和第2光用的光源时能够精度良好地调整检测部的增益。

检测部还具有第2投光部。第2投光部在与第1方向不同的第2方向上夹着纱道与第2受光部相对置配置、对纱道从第2方向投光。第1放大部进行：由第1投光部投光、被第1受光部受光的第1光的检测信号的放大；由第2投光部投光、被第2受光部受光的第3光的检测信号的放大；通过将放大后的第1光的检测信号和第3光的检测信号相加带来的第1信号的生成；以及第1信号的输出。第2放大部进行：由第1投光部投光、被第2受光部受光的第2光的检测信号的放大；由第2投光部投光、被第1受光部受光的第4光的检测信号的放大；通过将放大后的第2光的检测信号和第4光的检测信号相加带来的第2信号的生成；以及第2信号的输出。检测部包含第1投光部和第2投光部，具有2轴的光源。第1受光部兼作第1光的受光部和第4光的受光部。第2受光部兼作第2光的受光部和第3光的受光部。如果第1投光部或第2投光部的光量变化，则不仅第1信号，第2信号也受影响。根据该纱线缺陷检测装置，在用控制部调整第1放大部中的放大率及第2放大部中的放大率时，根据第1信号调整第1放大部中的放大率，然后根据第2信号调整第2放大部中的放大率。由此，防止第2信号的增益意外地变化了，即使在检测部具有2轴光源时也能够精度良好地调整检测部的增益。

控制部调整用来使第1投光部发光的控制值，在进行了与第1受光部所受光的第1光的检测信号相对应的输出值的零点修正后，进行第1调整处理。根据该结构，通过第1光的零点修正，第1投光部的光量成为固定。由此，第1信号的增益调整和第2信号的增益调整双方的精度提高。其中，第1光的零点修正意指与纱道中什么也没配置时的第1信号相对应的控制值成为预定的控制值地调整付与投光部的控制值的处理。