[发明专利]一种非易失性存储器的擦除方法和装置在审

专利信息
申请号: 201310059146.9 申请日: 2013-02-25
公开(公告)号: CN104008777A 公开(公告)日: 2014-08-27
发明(设计)人: 刘永波 申请(专利权)人: 北京兆易创新科技股份有限公司
主分类号: G11C16/14 分类号: G11C16/14;G11C16/10
代理公司: 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 代理人: 赵娟
地址: 100083 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 非易失性存储器 擦除 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种非易失性存储器擦除的方法,其特征在于,包括:

对目标擦除块进行预编程操作;所述目标擦除块中包括多个目标擦除扇区;

针对所述经预编程操作的多个目标擦除扇区施加擦除脉冲进行擦除;

针对所述经过擦除的多个目标擦除扇区进行擦除校验;

若存在所述擦除校验失败的目标擦除扇区,则针对所述擦除校验失败的目标擦除扇区施加擦除脉冲继续擦除,直至所述目标擦除块中的所有目标擦除扇区擦除校验成功为止;

针对擦除校验成功的目标擦除扇区进行过擦除纠正。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述针对经擦除的多个目标擦除扇区进行擦除校验的步骤之后,还包括:

针对擦除校验成功的目标擦除扇区分配擦除成功标识;

针对擦除校验失败的目标擦除扇区分配擦除失败标识。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述若存在擦除校验失败的目标擦除扇区,则针对所述擦除校验失败的目标擦除扇区施加擦除脉冲继续擦除,直至所述目标擦除块中的所有目标擦除扇区擦除校验成功为止的步骤包括:

子步骤S1,判断是否存在擦除失败标识的目标擦除扇区,若是,则执行子步骤S2,若否,则执行子步骤S4;

子步骤S2,针对所述具有擦除失败标识的目标擦除扇区施加擦除脉冲继续擦除;

子步骤S3,针对所述经继续擦除的目标擦除扇区进行擦除校验,并针对擦除校验成功的目标擦除扇区分配擦除成功标识,针对擦除校验失败的目标擦除扇区分配擦除失败标识,然后返回子步骤S1;

子步骤S4,停止施加擦除脉冲,结束当前目标擦除块的擦除。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括:

当施加擦除脉冲的次数达到最大预设擦除次数时,停止施加擦除脉冲,结束当前目标擦除块的擦除。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述针对经擦除的多个目标擦除扇区进行擦除校验的步骤包括:

对所述目标擦除扇区中存储单元施加校验电压并生成阈值电压;

判断所述阈值电压是否高于预设参考电压;

若是,则判定针对所述目标擦除扇区的擦除校验成功;

若否,则判定针对所述目标擦除扇区的擦除校验失败。

6.一种非易失性存储器擦除的装置,其特征在于,包括:

预编程模块,用于对目标擦除块进行预编程操作;所述目标擦除块中包括多个目标擦除扇区;

擦除模块,用于针对所述经预编程操作的多个目标擦除扇区施加擦除脉冲进行擦除;

擦除校验模块,用于针对所述经过擦除的多个目标擦除扇区进行擦除校验;

擦除判断模块,用于若存在所述擦除校验失败的目标擦除扇区,则针对所述擦除校验失败的目标擦除扇区施加擦除脉冲继续擦除,直至所述目标擦除块中的所有目标擦除扇区擦除校验成功为止;

过擦除纠正模块,用于针对擦除校验成功的目标擦除扇区进行过擦除纠正。

7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,在所述擦除校验模块之后,还包括:

成功标识模块,用于针对擦除校验成功的目标擦除扇区分配擦除成功标识;

失败标识模块,用于针对擦除校验失败的目标擦除扇区分配擦除失败标识。

8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述擦除判断模块包括:

判断子模块,用于判断是否存在擦除失败标识的目标擦除扇区,若是,则调用继续擦除子模块,若否,则调用停止擦除子模块;

继续擦除子模块,用于对所述具有擦除失败标识的目标擦除扇区施加擦除脉冲继续擦除;

校验子模块,用于针对所述经继续擦除的目标擦除扇区进行擦除校验,并针对擦除校验成功的目标擦除扇区分配擦除成功标识,针对擦除校验失败的目标擦除扇区分配擦除失败标识,然后调用判断子模块;

停止擦除子模块,用于停止施加擦除脉冲,结束当前目标擦除块的擦除。

9.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,还包括:

擦除结束模块,用于当施加擦除脉冲的次数达到最大预设擦除次数时,停止施加擦除脉冲,结束当前目标擦除块的擦除。

10.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述擦除校验模块包括:

阈值电压生成子模块,用于对所述目标擦除扇区中存储单元施加校验电压并生成阈值电压;

阈值电压判断子模块,用于判断所述阈值电压是否高于预设参考电压;

校验成功子模块,用于判定针对所述目标擦除扇区的擦除校验成功;

校验失败子模块,用于判定针对所述目标擦除扇区的擦除校验失败。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京兆易创新科技股份有限公司,未经北京兆易创新科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310059146.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top