[发明专利]信息处理的方法及电子设备有效
申请号: | 201310062191.X | 申请日: | 2013-02-27 |
公开(公告)号: | CN104008261B | 公开(公告)日: | 2017-03-01 |
发明(设计)人: | 冯翱 | 申请(专利权)人: | 联想(北京)有限公司 |
主分类号: | G06F19/00 | 分类号: | G06F19/00 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司11291 | 代理人: | 黄志华 |
地址: | 100085 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 信息处理 方法 电子设备 | ||
1.一种信息处理的方法,应用于电子设备中,其特征在于,所述方法包括:
获取所述电子设备存储的具有N个第一数据的第一组数据和与所述第一组数据对应的具有M个第二数据的第二组数据,其中,所述N个第一数据中的每一个第一数据至少包括与第一参数对应的第一参数值和与第二参数对应的第二参数值,所述M个第二数据中的每一个第二数据至少包括与所述第一参数对应的第三参数值和与所述第二参数对应的第四参数值,N和M都为不小于2的整数;
基于与所述第一及第二参数相关的第一预设条件,从所述第一组数据和所述第二组数据中提取包括有第一二元组集合和第二二元组集合的至少两组二元组集合,其中,所述第一二元组集合是将所述第一组数据中具有与所述第一参数对应的第一特征的K个第一数据中的每一个第一数据与所述第二组数据中具有所述第一特征的L个第二数据中的每一个第二数据进行一一比较的二元组的集合,所述第二二元组集合是将所述第一组数据中具有与所述第二参数对应的第二特征的Q个第一数据中的每一个第一数据与所述第二组数据中具有所述第二特征的P个第二数据中的每一个第二数据进行一一比较的二元组的集合,K、L、Q和P都为不小于1的整数;
基于一预设规则,从所述至少两组二元组集合中获取第一组二元组集合,其中,所述第一组二元组集合中的每一个二元组都不相同;
对所述第一组二元组集合中的每一个二元组中的第一数据和第二数据进行相似度计算,获取与所述第一组二元组集合对应的多个第一相似度值。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于与所述第一及第二参数相关的第一预设条件,从所述第一组数据和所述第二组数据中提取包括有第一二元组集合和第二二元组集合的至少两组二元组集合,具体包括:
基于所述第一预设条件中的与所述第一参数相关的第一预设子条件,从所述第一组数据和所述第二组数据中提取所述第一二元组集合;
基于所述第一预设条件中的与所述第二参数相关的第二预设子条件,从所述第一组数据和所述第二组数据中提取所述第二二元组集合。
3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,在所述第一参数为第一坐标系中的第一轴时,所述基于所述第一预设条件中的与所述第一参数相关的第一预设子条件,从所述第一组数据和所述第二组数据中提取所述第一二元组集合,具体为:
基于所述第一组数据中的每一个第一数据在所述第一轴上的数值为零时,获取所述第一组数据中的在所述第一轴上的数值为非零的所述K个第一数据,其中,将所述在所述第一轴上的数值为非零作为所述第一特征;以及
基于所述第二组数据中的每一个第二数据在所述第一轴上的数值为零时,获取所述第二组数据中的在所述第一轴上的数值为非零的所述L个第二数据;
基于所述K个第一数据和所述L个第二数据,获取所述第一二元组集合,其中,所述第一二元组集合为将所述K个第一数据中的每一个第一数据与所述L个第二数据中的每一个第二数据进行一一比较的二元组的集合。
4.如权利要求2所述的方法,其特征在于,在所述第二参数为所述第一坐标系中的与所述第一轴不同的第二轴时,所述基于所述第一预设条件中的与所述第二参数相关的第二预设子条件,从所述第一组数据和所述第二组数据中提取所述第一二元组集合,具体为:
基于所述第一组数据中的每一个第一数据在所述第二轴上的数值为零时,获取所述第一组数据中的在所述第二轴上的数值为非零的所述Q个第一数据,其中,将所述在所述第二轴上的数值为非零作为所述第二特征;以及
基于所述第二组数据中的每一个第二数据在所述第二轴上的数值为零时,获取所述第二组数据中的在所述第二轴上的数值为非零的所述P个第二数据;
基于所述Q个第一数据和所述P个第二数据,获取所述第二二元组集合,其中,所述第二二元组集合为将所述Q个第一数据中的每一个第一数据与所述P个第二数据中的每一个第二数据进行一一比较的二元组的集合。
5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述对所述第一组二元组集合中的每一个二元组中的第一数据和第二数据进行相似度计算,获取与所述第一组二元组集合对应的多个第一相似度值之后,所述方法包括:
基于所述多个第一相似度值,将所述第二组数据中的每一个第二数据按预设策略与所述第一组数据中的每一个第一数据进行排序。
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