[发明专利]信息处理的方法及电子设备

说明书

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，尤其涉及一种信息处理的方法及电子设备。

背景技术

随着电子设备技术和计算机技术的发展，现有的电子设备中的CPU的处理数据的速度越来越快，使得所述电子设备能够在较短的时间内完成数据计算任务，进而使得用户使用方便，用户的体验也更好。

本申请发明人在实现本申请实施例技术方案的过程中，至少发现现有技术中存在如下技术问题：

现有的电子设备在进行大量二元组数据相似度计算时，存在计算量大，计算时间长的技术问题，这是因为现有的电子设备在对于两组数据M和N中的相似度时，需要将M中的每一个元素和N中的每一个元素进行一一配对，获取多个二元组数据，计算得到所述多个二元组数据中的每一个二元组中的两个数据之间的相似度，当M和N都比较大，这是一个计算量非常大的过程，比如：在对460万个用户模型和22万个信息模型进行逐对计算时，需要进行大约1万亿次计算，从而存在计算量大，计算时间长的技术问题，从而使得用户使用不方便，使得用户的体验也不好。

发明内容

本申请实施例通过提供一种信息处理的方法及电子设备，用以解决现有的电子设备在进行大量二元组数据相似度计算时，存在计算量大，计算时间长的技术问题。

本申请实施例提供了一种信息处理的方法，应用于电子设备中，所述方法包括：

获取所述电子设备存储的具有N个第一数据的第一组数据和与所述第一组数据对应的具有M个第二数据的第二组数据，其中，所述N个第一数据中的每一个第一数据至少包括与第一参数对应的第一参数值和与第二参数对应的第二参数值，所述M个第二数据中的每一个第二数据至少包括与所述第一参数对应的第三参数值和与所述第二参数对应的第四参数值，N和M都为不小于2的整数；

基于与所述第一及第二参数相关的第一预设条件，从所述第一组数据和所述第二组数据中提取包括有第一二元组集合和第二二元组集合的至少两组二元组集合，其中，所述第一二元组集合是将所述第一组数据中具有与所述第一参数对应的第一特征的K个第一数据中的每一个第一数据与所述第二组数据中具有所述第一特征的L个第二数据中的每一个第二数据进行一一比较的二元组的集合，所述第二二元组集合是将所述第一组数据中具有与所述第二参数对应的第二特征的Q个第一数据中的每一个第一数据与所述第二组数据中具有所述第二特征的P个第二数据中的每一个第二数据进行一一比较的二元组的集合，K、L、Q和P都为不小于1的整数；

基于一预设规则，从所述至少两组二元组集合中获取第一组二元组集合，其中，所述第一组二元组集合中的每一个二元组都不相同；

对所述第一组二元组集合中的每一个二元组中的第一数据和第二数据进行相似度计算，获取与所述第一组二元组集合对应的多个第一相似度值。

可选的，所述基于与所述第一及第二参数相关的第一预设条件，从所述第一组数据和所述第二组数据中提取包括有第一二元组集合和第二二元组集合的至少两组二元组集合，具体包括：基于所述第一预设条件中的与所述第一参数相关的第一预设子条件，从所述第一组数据和所述第二组数据中提取所述第一二元组集合；基于所述第一预设条件中的与所述第二参数相关的第二预设子条件，从所述第一组数据和所述第二组数据中提取所述第二二元组集合。

可选的，在所述第一参数为第一坐标系中的第一轴时，所述基于所述第一预设条件中的与所述第一参数相关的第一预设子条件，从所述第一组数据和所述第二组数据中提取所述第一二元组集合，具体为：基于所述第一组数据中的每一个第一数据在所述第一轴上的数值为零时，获取所述第一组数据中的在所述第一轴上的数值为非零的所述K个第一数据，其中，将所述在所述第一轴上的数值为非零作为所述第一特征；以及基于所述第二组数据中的每一个第二数据在所述第一轴上的数值为零时，获取所述第二组数据中的在所述第一轴上的数值为非零的所述L个第二数据；基于所述K个第一数据和所述L个第二数据，获取所述第一二元组集合，其中，所述第一二元组集合为将所述K个第一数据中的每一个第一数据与所述L个第二数据中的每一个第二数据进行一一比较的二元组的集合。