[发明专利]可隔离信号干扰的半导体电路测试装置有效
申请号: | 201310072498.8 | 申请日: | 2013-03-07 |
公开(公告)号: | CN104035020A | 公开(公告)日: | 2014-09-10 |
发明(设计)人: | 郑柏凯;林士闻;杨苍奇 | 申请(专利权)人: | 致茂电子(苏州)有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 | 代理人: | 许志勇 |
地址: | 215011 江苏省苏州市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 隔离 信号 干扰 半导体 电路 测试 装置 | ||
1.一种半导体电路测试装置,其特征在于,包括:
一控制模块,具有一第一收发单元及一第一编解码单元,该第一收发单元耦接该第一编解码单元,该第一收发单元用以接收经由光传输的一光信号,该第一编解码单元将该光信号转换成一电信号;
一底板,耦接该控制模块,受控于该电信号以选择性地启动至少一测试程序;
一警报模块,具有一微控制单元及一第一隔离单元,该第一隔离单元耦接该底板与该微控制单元,该微控制单元经该第一隔离单元监测该底板的至少一参数,以选择性地产生一警报信号;以及
一电源模块,耦接于该底板以及一电源供应器之间,该电源模块具有一变压器,该变压器将该电源供应器提供的电能耦合至该底板。
2.如权利要求1所述的半导体电路测试装置,其特征在于,更包括一电脑,该电脑具有一第二收发单元以传输该光信号。
3.如权利要求2所述的半导体电路测试装置,其特征在于,该电脑以一光纤缆线耦接该控制模块,且该光纤缆线为该光信号的传输接口。
4.如权利要求2所述的半导体电路测试装置,其特征在于,该警报模块具有一第二隔离单元,并经由该第二隔离单元耦接该电脑,该电脑用以接收该警报模块产生的该警报信号。
5.如权利要求2所述的半导体电路测试装置,其特征在于,该微控制单元判断该底板的该参数是否超过一门限值,据以选择性地产生该警报信号。
6.如权利要求1所述的半导体电路测试装置,其特征在于,该电源模块更具有一脉冲宽度调变单元,该脉冲宽度调变单元耦接于该变压器与该电源供应器之间,该电源供应器提供的电能为一直流电压,该脉冲宽度调变单元调变该直流电压并输出至该变压器。
7.如权利要求6所述的半导体电路测试装置,其特征在于,该电源模块更具有一整流器,该整流器耦接于该变压器与该底板之间,该整流器整流该变压器的输出电压并输出至该底板。
8.如权利要求1所述的半导体电路测试装置,其特征在于,该警报模块所监测的该参数与该底板的电压、温度、时间或功率相关。
9.如权利要求1所述的半导体电路测试装置,其特征在于,该底板耦接至少一功能测试器,该功能测试器用以执行该测试程序,该底板受控于该电信号以选择性地驱动该功能测试器。
10.如权利要求9所述的半导体电路测试装置,其特征在于,该底板经由该功能测试器耦接一待测半导体电路,该功能测试器执行的该测试程序用以检测该待测半导体电路。
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