[发明专利]可隔离信号干扰的半导体电路测试装置

说明书

技术领域

本发明关于一种半导体电路测试装置，特别是关于一种能够隔离电源干扰与各种控制信号干扰的半导体电路测试装置，以避免测量待测的半导体电路时产生误差。

背景技术

随着科技的进步，半导体电路的功能也同样日新月异，且搭载的功能越来越多样化。传统上，半导体电路在出厂前，往往会经过一连串的测试程序，以确定半导体电路中的各项功能均正常。所述一连串的测试程序通常可经通过一台或多台的测试装置执行，而所述测试装置可用来批次地测量待测的半导体电路。一般来说，测试装置会外接一台电脑或者其他适于使用者输入指令的设备，由使用者设定测试的项目、测试的参数或者其他测试程序的细节。测试装置受控于所述电脑执行对应的测试程序，并且回报半导体电路中的功能是否正常。

然而，如何快速且准确地判断待测的半导体电路的功能是否正常相当不容易，特别是环境中充满着噪音干扰，精密的测试程序可能会因为干扰而出现错误判断的结果。此外，很常见的噪音干扰在于，电脑传送给测试装置的控制指令时可能干扰测试程序；测试装置回报半导体电路中的功能是否正常时可能干扰测试程序；以及外部电源供电给测试装置时也可能干扰测试程序。因此，业界需要一种能够隔离电源干扰与各种控制信号干扰的测试装置，以避免测量待测的半导体电路时产生误差。

发明内容

有鉴于此，本发明在于提出一种半导体电路测试装置，可以有效地隔离电脑传送来的控制信号以及电源干扰，同时可以在不影响测试程序的情况下监测半导体电路是否正常，以避免测量待测的半导体电路时产生误差。

本发明实施例提供一种半导体电路测试装置，所述半导体电路测试装置包括控制模块、底板、警报模块以及电源模块。控制模块具有第一收发单元及第一编解码单元，第一收发单元耦接第一编解码单元，第一收发单元用以接收经由光传输的光信号，第一编解码单元将光信号转换成电信号。底板耦接控制模块，受控于电信号以选择性地启动至少一测试程序。警报模块具有微控制单元及第一隔离单元，第一隔离单元耦接底板与微控制单元，微控制单元经第一隔离单元监测底板的至少一参数，以选择性地产生警报信号。电源模块耦接于底板以及电源供应器之间，电源模块具有变压器，变压器将电源供应器提供的电能耦合至底板。

于本发明一示范实施例中，半导体电路测试装置更可包括电脑，电脑具有第二收发单元以传输光信号。电脑可利用光纤缆线耦接控制模块，且光纤缆线为光信号的传输接口。此外，警报模块可具有第二隔离单元，并经由第二隔离单元耦接电脑，电脑用以接收警报模块产生的警报信号。另外，微控制单元可判断底板的参数是否超过门限值，据以选择性地产生警报信号。

于本发明另一示范实施例中，电源模块更可具有脉冲宽度调变单元，脉冲宽度调变单元耦接于变压器与电源供应器之间，电源供应器提供的电能为直流电压，脉冲宽度调变单元调变直流电压并输出至变压器。此外，电源模块更可具有整流器，整流器耦接于变压器与底板之间，整流器整流变压器的输出电压并输出至底板。另外，警报模块所监测的参数可与底板的电压、温度、时间或功率相关。

于本发明再一示范实施例中，底板可耦接至少一功能测试器，功能测试器用以执行测试程序，底板受控于电信号以选择性地驱动功能测试器。此外，底板经由功能测试器耦接待测装置，功能测试器执行的测试程序用以检测待测装置。

综上所述，本发明实施例提供的半导体电路测试装置可以利用光隔离的技术，避免控制模块受到电脑的干扰。同时，本发明实施例在微控制单元与底板之间设置第一隔离单元，使得警报模块可以在不影响测试程序的情况下监测半导体电路是否正常。另一方面，本发明实施例的电源模块设置有变压器，故能将电源供应器提供的电能耦合至底板。藉此，本发明实施例提供的半导体电路测试装置可以避免测量待测的半导体电路时产生误差。

为使能更进一步了解本发明的特征及技术内容，请参阅以下有关本发明的详细说明与附图，但是此等说明与所附图式仅用来说明本发明，而非对本发明的权利范围作任何的限制。

附图说明

图1绘示依据本发明一示范实施例的半导体电路测试装置的功能方块图。

图2绘示依据本发明另一示范实施例的半导体电路测试装置的功能方块图。

图3绘示依据本发明再一示范实施例的电源模块的功能方块图。

图4绘示依据本发明另一示范实施例的底板与功能测试器的功能方块图。

【符号说明】

1：半导体电路测试装置

10：控制模块

102：第一收发单元

104：第一编解码单元

12：底板

14：警报模块