[发明专利]一种基于椭偏仪的纳米材料熔点的测量方法

权利要求书

1.一种基于椭偏仪的纳米材料熔点的测量方法，其特征在于具体步骤为：

（1）首先，利用反射式椭偏仪测量不同温度下纳米材料的p光、s光的反射率的比值tanΨ和相位延迟Δ；

（2）然后通过测量得到椭偏参数Ψ、Δ，计算出材料的介电常数ε₁、ε₂以及折射率n、消光系数k；

（3）计算光学常数随温度的变化率；

（4）比较光学常数随温度的变化谱，以及变化率随温度的变化谱，通过观察其突变来确定被测纳米材料的熔点。

2.根据权利要求1所述的基于椭偏仪的纳米材料熔点的测量方法，其特征在于步骤（2）中，对于体材料，各参数通过以下公式求得：

                                                  (1)

                       (2)

                                      (3)

                                      (4)。

3.根据权利要求1所述的基于椭偏仪的纳米材料熔点的测量方法，其特征在于步骤（3）中，计算光学常数随温度变化的变化率：dΨ/dT、dΔ/dT、dn/dT、dk/dT、dε₁/dT和dε₂/dT。