[发明专利]光源光强均一性测调系统及测调方法

权利要求书

1.一种光源光强均一性测调系统，其特征在于，包括：光强测试板、光源、图像采集模块、微处理器和控制模块;

所述光强测试板包括第一基板、第二基板以及位于两基板之间的光致变色材料；

所述光源用于向所述光强测试板照射光；

所述图像采集模块用于采集光强测试板的色差变化图像；

所述微处理器与所述图像采集模块连接，接收所述色差变化图像并将色差变化图像与微处理器内部存储的比色标准进行比较，获得所述光强测试板整个面的光强分布，判断光源所发出的光强均一性情况；

所述微处理器通过所述控制模块与所述光源连接，根据判断结果由所述控制模块对光源的光强进行调整。

2.如权利要求1所述的光源光强均一性测调系统，其特征在于，所述光强测试板的第一基板一面上镀有氢氧化镍薄膜，所述第二基板一面上镀有二氧化钛薄膜，所述两基板的镀膜面相贴附；所述光源为紫外光源。

3.如权利要求2所述的光源光强均一性测调系统，其特征在于，还包括：

探测器，与所述微处理器相连，测量所述光源照射的光强信息，将所述光强信息传送至所述微处理器，以校正微处理器内存储的所述比色标准。

4.如权利要求3所述的光源光强均一性测调系统，其特征在于，所述探测器有多个，间隔分布在所述光强测试板放置区域上方，对所述光源照射的光强信息进行多点采集。

5.如权利要求3所述的光源光强均一性测调系统，其特征在于，所述探测器与所述微处理器之间通过信号处理模块连接，所述信号处理模块对探测器采集的多点光强信息进行分析处理，将所述探测器所采集的光强值和位置值传送至微处理器。

6.一种光源光强均一性测调方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取色差变化图像；

将所述色差变化图像与比色标准进行比较，获得光强信息，并判断该光强信息均一性情况；

根据判断结果，调整光源光强。

7.如权利要求6所述的光源光强均一性测调方法，其特征在于，所述色差变化图像是一个时间段内连续采集获得。

8.如权利要求7所述的光源光强均一性测调方法，其特征在于，分析处理所述色差变化图像，获得光强信息，并判断该光强信息均一性情况包括将所述色差变化图像与比色标准进行对照，获得各个位置值所对应的光强值、以及各个位置值所对应的光强值随时间变化的曲线。

9.如权利要求8所述的光源光强均一性测调方法，其特征在于，还包括以下步骤：测量光源照射的光强信息，以对所述比色标准进行校正。

10.如权利要求6所述的光源光强均一性测调方法，其特征在于，根据判断结果，调整光源光强包括调整供应电压来调整光源光强。