[发明专利]光源光强均一性测调系统及测调方法

说明书

技术领域

本发明涉及测试技术领域，特别是涉及一种光源光强均一性测调系统及测调方法。

背景技术

传统测量紫外线光强均一性的测调系统只能进行点测量，在做紫外线固化机的光强均一性（光线照射的均匀度）测调时，要多次测量，然后再进行数据整理，最后分析调解光强的均一性，这样有很大的弊端，就是不能同时对多点进行测量，测量出的数据是不同时间的测定数据，不仅浪费大量时间，而且精度很低，也不直观。

发明人在相关技术研究过程中看到光致变色现象相关资料，光致变色指的是某些化合物在一定波长和强度的光作用下分子结构会发生变化，从而导致其对光的吸收峰值即颜色的相应改变，且这种改变一般是可逆的。

现有技术中有一种变色材料做成的光强测试结构，如图1所示，是在两层基板1之间同时设置第一金属氧化物薄膜2和第二金属氧化物薄膜3，两种薄膜分别镀设在两层基板上且两基板的镀膜面相贴附，从而在两层基板1之间形成金属氧化物薄膜夹层，当光照射在夹层上时，电子在两层薄膜之间进行转移，金属氧化物的价态发生转变，夹层颜色随之发生改变，同时具有光致变色和电致变色特性。

因此，发明人基于上述技术提出一种新的测调光强均一性的系统和方法。

发明内容

（一）要解决的技术问题

本发明要解决的技术问题是如何快速、精确地对光强的均一度进行测试和调整。

（二）技术方案

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种光源光强均一性测调系统，其包括：光强测试板、光源、图像采集模块、微处理器和控制模块;

所述光强测试板包括第一基板、第二基板以及位于两基板之间的光致变色材料；

所述光源用于向所述光强测试板照射光；

所述图像采集模块用于采集光强测试板的色差变化图像；

所述微处理器与所述图像采集模块连接，接收所述色差变化图像并将色差变化图像与微处理器内部存储的比色标准进行比较，获得所述光强测试板整个面的光强分布，判断光源所发出的光强均一性情况；所述微处理器通过所述控制模块与所述光源连接，根据判断结果由所述控制模块对光源的光强进行调整。

其中，所述光强测试板的第一基板一面上镀有氢氧化镍薄膜，所述第二基板一面上镀有二氧化钛薄膜，所述两基板的镀膜面相贴附；所述光源为紫外光源。

其中，所述光源光强均一性测调系统还包括：

探测器，与所述微处理器相连，测量所述光源照射的光强信息，将所述光强信息传送至所述微处理器，以校正微处理器内存储的所述比色标准。

其中，所述探测器有多个，间隔分布在所述光强测试板放置区域上方，对所述光源照射的光强信息进行多点采集。

其中，所述探测器与所述微处理器之间通过信号处理模块连接，所述信号处理模块对探测器采集的多点光强信息进行分析处理，将所述探测器所采集的光强值和位置值传送至微处理器。

本发明还提供了一种光源光强均一性测调方法，其包括以下步骤：

获取色差变化图像；

将所述色差变化图像与比色标准进行比较，获得光强信息，并判断该光强信息均一性情况；

根据判断结果，调整光源光强。

其中，所述色差变化图像是一个时间段内连续采集获得。

其中，分析处理所述色差变化图像，获得光强信息，并判断该光强信息均一性情况包括将所述色差变化图像与比色标准进行对照，获得各个位置值所对应的光强值、以及各个位置值所对应的光强值随时间变化的曲线。

其中，所述光源光强均一性测调方法还包括以下步骤：测量光源照射的光强信息，以对所述比色标准进行校正。

其中，根据判断结果，调整光源光强包括调整供应电压来调整光源光强。

（三）有益效果

上述技术方案所提供的光源光强均一性测调系统及方法，借助于光强测试板，能够一次测定整个照射面的光强，获得一个随时间变化的光强面的图像，对整个光强的均匀程度也可以精确的显示出来，可应用于封框胶固化设备、镀膜、刻蚀等设备的光强均一度调试，省时省力，而且数据详实精确。

附图说明

图1是现有技术中变色材料做成的光强测试结构简图；

图2是本发明实施例中制备光强测试板的过程示意图；

图3是本发明实施例中光源光强均一性测调系统的结构示意图。

其中，1：基板；2：第一金属氧化物薄膜；3：第二金属氧化物薄膜。

具体实施方式