[发明专利]信号处理装置、液晶装置、电子设备以及信号处理方法有效

专利信息
申请号: 201310082926.5 申请日: 2013-03-15
公开(公告)号: CN103310750B 公开(公告)日: 2017-06-16
发明(设计)人: 北川拓;保坂宏行;饭坂英仁 申请(专利权)人: 精工爱普生株式会社
主分类号: G09G3/36 分类号: G09G3/36;G02F1/133
代理公司: 北京市中咨律师事务所11247 代理人: 万利军,陈海红
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 信号 处理 装置 液晶 电子设备 以及 方法
【权利要求书】:

1.一种信号处理装置,其特征在于,

用于具备多个像素的液晶装置中,

所述信号处理装置具备:

检测部,其基于控制对所述多个像素的各个施加的电压的信号,检测第1像素与第2像素的边界,该第1像素与施加比第1基准电压低的第1电压的第1信号对应,该第2像素与施加比第2基准电压高的第2电压的第2信号对应;和

校正部,其在所述第1电压比低于所述第1基准电压的第3基准电压低的情况下,将与所述第1像素对应的所述第1信号校正成第3信号,该第3信号施加比所述第1电压高且比所述第2电压低的第3电压,

所述第2基准电压比所述第1基准电压高,

所述第3电压,在所述第2电压低时和所述第2电压高时,电压不同。

2.根据权利要求1所述的信号处理装置,其特征在于,

所述第3电压,在所述第2电压高时比在所述第2电压低时高。

3.根据权利要求1所述的信号处理装置,其特征在于,

所述第3基准电压,在所述第2电压高时比在所述第2电压低时高。

4.根据权利要求1所述的信号处理装置,其特征在于,

所述校正部,与校正所述第1像素同样地校正与相邻于所述第1像素的第3像素对应的信号,

所述第1像素配置在所述第3像素与所述第2像素之间。

5.根据权利要求1所述的信号处理装置,其特征在于,

所述校正部,将与所述第2像素对应的所述第2信号,校正成施加比所述第2电压低且比所述第3电压高的第4电压的第4信号,

所述第4电压,在所述第1电压高时比在所述第1电压低时高。

6.根据权利要求5所述的信号处理装置,其特征在于,

在所述第2电压比高于所述第2基准电压的第4基准电压高的情况下,将与所述第2像素对应的所述第2电压校正成所述第4电压。

7.根据权利要求1所述的信号处理装置,其特征在于,

所述校正部,与校正所述第2像素同样地校正与相邻于所述第2像素的第4像素对应的信号,

所述第2像素配置在所述第1像素与所述第4像素之间。

8.一种液晶装置,其特征在于,

具备权利要求1所述的信号处理装置。

9.一种电子设备,其特征在于,

具备权利要求8所述的液晶装置。

10.一种信号处理装置,其特征在于,

用于具备多个像素的液晶装置中,

所述信号处理装置具备:

检测部,其基于控制对所述多个像素的各个施加的电压的信号,检测第1像素与第2像素的边界,该第1像素与施加比第1基准电压低的第1电压的第1信号对应,该第2像素与施加比第2基准电压高的第2电压的第2信号对应;和

校正部,其在所述第1电压比低于所述第1基准电压的第3基准电压低的情况下,将与所述第1像素对应的所述第1信号校正成第3信号,该第3信号施加比所述第1电压高且比与所述第2像素对应的所述第2电压低的第3电压,

所述第2基准电压比所述第1基准电压高,

所述第3电压,在所述第1电压与第2电压的差值大时比在所述差值小时高。

11.根据权利要求10所述的信号处理装置,其特征在于,

所述校正部,还将与所述第2像素对应的所述第2信号校正成第4信号,该第4信号施加比所述第2电压低且比与所述第1像素对应的所述第1电压高的第4电压,

所述第4电压,在所述第1电压与第2电压的差值大时比在所述差值小时低。

12.一种液晶装置,其特征在于,

具备权利要求10所述的信号处理装置。

13.一种电子设备,其特征在于,

具备权利要求12所述的液晶装置。

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