[发明专利]信号处理装置、液晶装置、电子设备以及信号处理方法

说明书

技术领域

本发明涉及减少液晶面板中的显示不良的技术。

背景技术

液晶面板具有由按每个像素设置的像素电极和在多个像素中共用设置的共用电极夹持液晶的结构。在这样的液晶面板中，由于在相互相邻的像素电极彼此产生的横向电场导致产生液晶的取向不良（反向倾斜畴，reverse tilt domain），有时这会成为显示方面的不良情况的原因。在专利文献1以及专利文献2中公开了抑制由于液晶的取向不良导致的显示不良的发生的技术。专利文献1以及专利文献2公开了如下技术：通过相邻像素的信号电平之差（也就是，液晶元件的电压差）检测影像信号的黑白边界，对检测出的黑白边界的影像信号以使信号电平的差减小地对影像信号进行校正。

【专利文献1】日本特开2008-281947号公报

【专利文献2】日本特开2008-46613号公报

在像专利文献1以及专利文献2公开的技术那样，仅以相邻的像素彼此的信号电平差较大为条件、对所有的影像信号进行校正的方法中，在横向电场弱的位置校正过量的影像信号，可能产生使用者容易感知到的显示背离，或者相反地，在横向电场强的位置，影像信号的校正不足，可能会发生由反向倾斜畴导致的显示不良。这样，由于在像素产生的横向电场的不同，用于使反向倾斜畴减少所必需的影像信号的校正量不同。

发明内容

本发明鉴于上述的情况而完成，其目的之一在于：通过与在像素产生的横向电场的强度相应的影像信号的校正，抑制由反向倾斜畴导致的显示不良的发生。

为了达成上述目的，一种信号处理装置，其特征在于，用于具备多个像素的液晶装置中，所述信号处理装置具备:检测部，其基于控制对所述多个像素的各个施加的电压的信号，检测第1像素与第2像素的边界，该第1像素与比第1基准电压低的第1电压对应，该第2像素与比第2基准电压高的第2电压对应；和校正部，其将与所述第1像素对应的所述第1电压校正成比所述第1电压高且比与所述第2像素对应的所述第2电压低的第3电压，所述第2基准电压比所述第1基准电压高，所述第3电压，在所述第2电压高时比所述第2电压低时高。

根据本发明，通过与在像素产生的横向电场的强度相应的影像信号的校正，能够抑制由反向倾斜畴导致的显示不良的发生。

在本发明中，所述校正部，也可以在所述第1电压比低于所述第1基准电压的第3基准电压低的情况下，将与所述第1像素对应的所述第1电压校正成所述第3电压。

根据本发明，能够将判定为液晶分子的取向状态容易紊乱的第1像素作为影像信号的校正的对象。

在本发明中，所述校正部也可以使得所述第4电压，在所述第1电压与第2电压的差值大时比所述差值小时低。

根据本发明，能够与横向电场的强度相应地，按反向倾斜畴的减少所需的量，校正第1像素的影像信号。

在本发明中，所述校正部，也可以设定与从与所述边界相接的所述第2像素向该边界的相反方向连续的2个以上的所述第2像素的所述第2电压相应的、所述第3电压及所述第4电压。

根据本发明，能够抑制在发生弱的横向电场的情况下产生的反向倾斜畴的发生。

在本发明中，所述校正部也可以设定与所述2个以上的所述第2像素的所述第2电压中的最大电压相应的所述第3电压及所述第4电压。

根据本发明，能够更加可靠地抑制在发生了弱的横向电场的情况下产生的反向倾斜畴的发生。

在本发明中，所述校正部，也可以将指定与所述检测出的边界相接的所述第2像素的所述第2电压的影像信号，校正成指定比该电压低且相应于与该边界相接的所述第1像素的所述第1电压的第5电压的影像信号。

根据本发明，能够一边抑制平均1个像素的影像信号的校正，一边通过与在像素产生的横向电场的强度相应的影像信号的校正，抑制由反向倾斜畴导致的显示不良的发生。

在本发明中，所述校正部，也可以将指定与所述检测出的边界相接的所述第2像素的所述施加电压的影像信号，校正为指定比该电压低且相应于与该边界相接的所述第1像素的所述第1电压的第5电压的影像信号。

根据本发明，能够将容易导致反向倾斜畴发生的第2像素作为影像信号的校正的对象。

在本发明中，所述校正部也可以，与所述边界相接的所述第1像素的所述第1电压与所述第2电压的差值越大，就越降低所述第5电压及所述第6电压。

根据本发明，能够与横向电场的强度相应地，按反向倾斜畴的减少所需要的量，校正第2像素的影像信号。