[发明专利]测试设备及其方法

权利要求书

1.一种用于测试电子显示器的一个或多个特性的设备，包括：

主体；

容纳腔，限定在主体内，并被配置成容纳电子显示器的至少一部分；

多个传感器，定位在第一表面上，并被配置成与容纳在容纳腔内电子显示器的至少一部分光通信；其中

所述多个传感器被配置成检测电子显示器的至少一种类型的非均匀性。

2.根据权利要求1所述的设备，其中，所述至少一种非均匀性包括至少一个光学特性和至少一个假象。

3.根据权利要求2所述的设备，其中，所述至少一个假象包括至少一个静态假象和至少一个动态假象。

4.根据权利要求1所述的设备，其中，所述多个传感器是光传感器。

5.根据权利要求4所述的设备，其中，所述多个传感器是具有基本跟随人的光度曲线的峰值的光电晶体管。

6.根据权利要求1所述的设备，其中，所述多个传感器被定位为捕获发光区域的周边至朝向发光区域的中心向内的部分，但在发光区域的中心之前终止。

7.根据权利要求1所述的设备，其中，还包括输出机构，与所述多个传感器通信，并被配置成提供对应于非均匀性的至少一个指示。

8.一种用于检测电子显示器中一个或多个非均匀性的方法，包括：

提供具有一个或多个传感器的测试装置；以及

由所述一个或多个传感器在时间段内收集对应于从电子显示器发射的光的光数据。

9.根据权利要求8所述的方法，其中，所述一个或多个传感器是光电晶体管。

10.根据权利要求8所述的方法，进一步包括：对光数据和期望要由电子显示器发射的光进行比较，以确定发射的光与要发射的期望的光是否基本相等。

11.根据权利要求8所述的方法，还包括：由处理器对第一传感器在第一位置处收集的光数据和第二传感器在第二位置处收集的光数据进行比较。

12.根据权利要求8的方法，还包括：由处理器对一个或多个传感器在时间段内收集的光数据进行比较。

13.一种用于检测计算设备的显示器的两个或更多个特性的测试装置，包括：

主体；

容纳腔，限定在主体内，并被配置成容纳显示器的至少一部分；

第一组传感器，定位在第一表面上，并配置成与容纳在容纳腔内的显示器的第一部分光通信；

第二组传感器，定位在第一表面上，并与第一组传感器在空间上分离，被配置成与容纳在容纳腔内的显示器的第二部分光通信；其中

第一组传感器和第二组传感器被配置成检测显示器的至少一种类型的非均匀性。

14.根据权利要求13所述的测试装置，其中，所述显示器的第一部分是显示器的发光区域的周边，并且第一组传感器被配置成检测漏光。

15.根据权利要求13所述的测试装置，其中，所述显示器的第二部分是显示器的中心。

16.根据权利要求13所述的测试装置，其中，所述第一组传感器和第二组传感器是光电晶体管。

17.根据权利要求16所述的测试装置，其中，所述第一组传感器和第二组传感器产生从显示器发射的光的二维图像。

18.根据权利要求13所述的测试装置，其中，所述第一组传感器和第二组传感器与处理器电气通信。

19.根据权利要求18所述的测试装置，其中，所述处理器与测试装置分离。

20.根据权利要求13所述的测试装置，其中，所述第一组传感器和第二组传感器具有至少部分匹配人的响应性光谱曲线的响应性。