[发明专利]测试设备及其方法

说明书

技术领域

本申请一般地涉及显示装置，并尤其涉及用于测试显示装置的设备。

背景技术

电子显示器，诸如与电子装置一起使用或并入电子装置的那些电子显示器，具有各种不同的光学参数，其决定或影响这些显示器上显示的图像的质量和/或外观。例如，显示器的对比度、亮度、光的均匀性、灰度、和/或色饱和度可能会改变这些显示器上的图像的外观。此外，电子显示器可能会受到视觉假象(artifact)，如漏光、闪烁、波纹、点或线缺陷等等。这些假象可能会影响用户在查看电子显示时的体验质量。一般地，假象可以是基于参数的，并因此一般是静态的(诸如漏光)，或可以是基于假象的，并因此一般是动态的(诸如闪烁)。

在某些情况下，有益的是，在制造过程中测试电子显示器，以便修正参数、减少或消除假象，和/或防止有缺陷的显示器被运送或以其他方式提供给消费者。然而，目前的检测设备和方法通常提供基于参数的测试或基于假象的测试。假象测试和参数测试两者通常必须被使用，使得这两种类型的缺陷可以被测试，从而需要用于每个显示器面板的两个独立的测试组。

此外，光学参数和/或假象的一些当前(current)测试可能是非常精确的，但可能是劳动密集、需要昂贵的设备，或每次只测试特定的一个像素或一组像素。这种测试不被扩展为以时间有效或成本有效的方式测试电子显示器的生产线。

发明内容

一般地，本文所描述的实施例可以采用用于测试电子显示器的一个或多个特性的测试装置的形式。该测试装置包括主体和容纳腔，该容纳腔限定在主体内并被配置成容纳电子显示器的至少一部分。该测试装置还包括多个传感器，定位在测试装置的第一表面上，并被配置成与容纳在容纳腔内的电子显示器的至少一部分光通信。多个传感器被配置成通过检测从电子显示器发射的光来检测电子显示器的至少一种类型的非均匀性。

另一种实施例可以采取用于检测电子显示器的一个或多个非均匀性的方法的形式。该方法包括提供具有一个或多个传感器的测试装置，和由所述一个或多个传感器在时间段内收集对应于从电子显示器发射的光的光数据。

然而，另一实施例可以采用用于检测计算设备的显示器的两个或更多个特性的测试装置的形式。该测试装置包括主体；容纳腔，限定在主体内，并被配置成容纳显示器的至少一部分；第一组传感器，定位在第一表面上，并配置成与容纳在容纳腔内的显示器的第一部分光通信；第二组传感器，定位在第一表面上，并与第一组传感器在空间上分离，第二组传感器被配置成与容纳在空腔内的显示器的第二部分光通信。第一组传感器和第二组传感器被配置成检测显示器的至少一种类型的非均匀性。

在阅读详细的说明书之后，其它实施例和优点会很清楚。

附图说明

图1是用于检测显示器中的一个或多个非均匀性的示例测试装置的顶部透视图。

图2是图1的测试装置的俯视图。

图3是图1的测试装置的盖体处于打开位置的侧面透视图。

图4是图1的测试装置的盖体处于打开位置的俯视图。

图5是测试装置的另一个示例实施例的顶部透视图。

图6A是图5的测试装置的盖体处于打开位置的前顶部透视图。

图6B是图5的测试装置的盖体处于打开位置的侧面透视图。

图7是图5的测试装置的底部的俯视图。

图8A是电子显示器容纳在图1的测试装置中的前透视图。

图8B是电子显示器容纳在图1的测试装置中的盖体处于关闭的前透视图。

图9是具有电子显示器容纳在其中的测试装置的截面图。

图10是例示用于测试电子显示器以便检测一个或多个非均匀性的方法的流程图。

图11是例示用于分析传感器数据以便确定所测试的电子显示器是否具有一个或多个非均匀性的方法的流程图。

具体实施方式

本申请要求于2012年3月16日提交的、美国临时申请号为No.61/612,054、标题为“Imaging Sensor Array Testing Equipment”的优先权，其全部内容通过引用并入本文。