[发明专利]PMU上电时序测试装置及方法有效

专利信息
申请号: 201310088753.8 申请日: 2013-03-19
公开(公告)号: CN103197998A 公开(公告)日: 2013-07-10
发明(设计)人: 周敏心;林兆强 申请(专利权)人: 福州瑞芯微电子有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22
代理公司: 福州市鼓楼区京华专利事务所(普通合伙) 35212 代理人: 宋连梅
地址: 350000 福建省*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: pmu 时序 测试 装置 方法
【说明书】:

【技术领域】

发明涉及一种计算机主板的测试装置及其方法,具体是指PMU上电时序测试装置及方法。

【背景技术】

PMU(power management unit),电源管理单元,是一种高度集成的、针对便携式应用的电源管理方案,即将传统分立的若干类电源管理器件整合在单个的封装之内,这样可实现更高的电源转换效率和更低功耗,及更少的组件数以适应缩小的板级空间。PMU要配合CPU(系统级芯片)的上电时序,某些电压的上电顺序和之间的时间间隔有先后关系和时间要求。

目前,主要通过测试员使用观察示波器来检测PMU芯片的供电(上电)时序,效率很低,准确性也难得到保证。

有鉴于此,本发明人针对现有技术的缺陷深入研究,并有本案产生。

【发明内容】

本发明所要解决的技术问题之一在于提供一种简单高效的PMU上电时序测试装置。

本发明所要解决的技术问题之二在于提供一种简单高效的PMU上电时序测试方法。

本发明通过以下技术方案解决上述技术问题之一:

PMU上电时序测试装置,包括待测PMU以及用来测试的SOC,所述待测PMU的两个电源输出引脚分别通过一电平检测电路连接到所述SOC的两个中断检测脚;

所述电平检测电路包括一第一电阻、一第二电阻、一第三电阻、一NPN三极管;所述待测PMU的每个电源输出引脚连接所述第一电阻,所述第一电阻另一端分两路,一路连接到所述NPN三极管的基极,另一路连接所述第二电阻,所述第二电阻另一端接地;所述NPN三极管的发射极接地,所述NPN三极管的集电极分两路,一路连接到所述SOC的中断检测脚,另一路连接到所述第三电阻,所述第三电阻另一端连接到电源;

所述SOC,通过分别检测所述NPN三极管集电极的电压变化来判断相应的时序,所述SOC接收到中断,然后在中断回调函数中记录下各路中断时的系统时间,存于记录数组,所有中断都执行完成后将数组数据与预设数据比较,判断所述待测PMU上电时序的正确性。

本发明通过以下技术方案解决上述技术问题之二:

使用上述的PMU上电时序测试装置的上电时序测试方法,包括如下步骤:

步骤1:将SOC的GPIO设为下降沿中断口,中断计数器count清0,时间记录数组timeDate[]清0;

步骤2:给待测PMU上电;

步骤3:延时1微秒,time++;

步骤4:判断Count>=待测需测电源个数n?是,转入步骤5,否,转入步骤6;

步骤5:比较timeDate[]是否在设定范围内,是,则转入步骤7,否,则转入步骤8;

步骤6:判断time>超时设定值?是,转入步骤8,否,转到步骤3;

步骤7:PMU上电时序合格,ret=SUCCESS,转入步骤9;

步骤8:PMU上电时序不合格,ret=ERROR,转入步骤9;

步骤9:结束测试。

本发明的优点在于:利用测试板处理器的中断引脚来检测待测PMU的电源输出时序,大幅度提高了测试效率的同时,也保证了测试的准确性。

【附图说明】

下面参照附图结合实施例对本发明作进一步的描述。

图1是本发明测试装置的硬件结构示意图。

图2是本发明测试方法流程示意图。

【具体实施方式】

如图1所示,PMU上电时序测试装置,包括待测PMU以及用来测试的SOC,PMU的两个电源输出引脚分别通过第一电平检测电路、第二电平检测电路连接到SOC的两个中断检测脚。

第一电平检测电路包括电阻R1、R2、R3、NPN三极管Q1;PMU的其中一个电源输出引脚连接电阻R1,电阻R1另一端分两路,一路连接到NPN三极管Q1的基极,另一路连接电阻R3,电阻R3另一端接地;NPN三极管Q1的发射极接地,NPN三极管Q1的集电极分两路,一路连接到SOC的中断检测脚,另一路连接到电阻R2,电阻R2另一端连接到电源。

第二电平检测电路包括电阻R4、R5、R6、NPN三极管Q2;PMU的其中一个电源输出引脚连接电阻R4,电阻R4另一端分两路,一路连接到NPN三极管Q2的基极,另一路连接电阻R6,电阻R6另一端接地;NPN三极管Q2的发射极接地,NPN三极管Q2的集电极分两路,一路连接到SOC的中断检测脚,另一路连接到电阻R5,电阻R5另一端连接到电源。

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