[发明专利]一种标准逻辑工艺兼容的差分架构NVM存储器单元无效

专利信息
申请号: 201310090971.5 申请日: 2013-03-21
公开(公告)号: CN103137201A 公开(公告)日: 2013-06-05
发明(设计)人: 李力南;翁宇飞;王子欧 申请(专利权)人: 苏州宽温电子科技有限公司
主分类号: G11C16/06 分类号: G11C16/06
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215000 江苏省苏州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 标准 逻辑 工艺 兼容 架构 nvm 存储器 单元
【权利要求书】:

1.一种标准逻辑工艺兼容的差分架构NVM存储器单元,其特征在于:由两个单一NVM存储单元连接辅以偏置的电源和输入输出电路组成,所述单一NVM存储单元为浮栅型架构,包括在浮栅上的充当选通以及偏置作用的选择晶体管、编程晶体管和以电容接法与编程晶体管栅极共享的控制晶体管。

2.根据权利要求1所述的标准逻辑工艺兼容的差分架构NVM存储器单元,其特征在于:选择晶体管为MOS管M1和MOS管M4,其栅极接字线选通电压Vbias&sel,其源极接恒定电流源模块,其漏极分别接MOS管M2和MOS管M5,其衬底直接与其源极相连,选通电压采用高压;

编程晶体管为MOS管M2和MOS管M5,其栅极分别与MOS管M3和MOS管M6的栅极相连共享浮栅,其源极接MOS管M1和MOS管M4的漏极,其漏极接输出差分放大模块,其衬底直接与其源极相连,浮栅与电容接法的MOS管M3和MOS管M6分别相连;

控制晶体管为MOS管M3和MOS管M6;

MOS管M0的栅极接差分选择电压Diff_sel,其源极漏极分别与MOS管M2和MOS管M5的源极相连,其衬底与其源极相连。

3.根据权利要求2所述的标准逻辑工艺兼容的差分架构NVM存储器单元,其特征在于:浮栅上多添加了两个相同的小电容MOS管M7和MOS管M8,并且把节点Vg1和Cg2连接,把Vg2和Cg1连接,MOS管M7和MOS管M3接法完全一致,MOS管M8与MOS管M7接法完全一致。

4.根据权利要求3所述的标准逻辑工艺兼容的差分架构NVM存储器单元,其特征在于:浮栅上多添加了两个相同MOS管,其接法与作用与MOS管M2和MOS管M5一样。

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