[发明专利]一种标准逻辑工艺兼容的差分架构NVM存储器单元无效
申请号: | 201310090971.5 | 申请日: | 2013-03-21 |
公开(公告)号: | CN103137201A | 公开(公告)日: | 2013-06-05 |
发明(设计)人: | 李力南;翁宇飞;王子欧 | 申请(专利权)人: | 苏州宽温电子科技有限公司 |
主分类号: | G11C16/06 | 分类号: | G11C16/06 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215000 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 标准 逻辑 工艺 兼容 架构 nvm 存储器 单元 | ||
1.一种标准逻辑工艺兼容的差分架构NVM存储器单元,其特征在于:由两个单一NVM存储单元连接辅以偏置的电源和输入输出电路组成,所述单一NVM存储单元为浮栅型架构,包括在浮栅上的充当选通以及偏置作用的选择晶体管、编程晶体管和以电容接法与编程晶体管栅极共享的控制晶体管。
2.根据权利要求1所述的标准逻辑工艺兼容的差分架构NVM存储器单元,其特征在于:选择晶体管为MOS管M1和MOS管M4,其栅极接字线选通电压Vbias&sel,其源极接恒定电流源模块,其漏极分别接MOS管M2和MOS管M5,其衬底直接与其源极相连,选通电压采用高压;
编程晶体管为MOS管M2和MOS管M5,其栅极分别与MOS管M3和MOS管M6的栅极相连共享浮栅,其源极接MOS管M1和MOS管M4的漏极,其漏极接输出差分放大模块,其衬底直接与其源极相连,浮栅与电容接法的MOS管M3和MOS管M6分别相连;
控制晶体管为MOS管M3和MOS管M6;
MOS管M0的栅极接差分选择电压Diff_sel,其源极漏极分别与MOS管M2和MOS管M5的源极相连,其衬底与其源极相连。
3.根据权利要求2所述的标准逻辑工艺兼容的差分架构NVM存储器单元,其特征在于:浮栅上多添加了两个相同的小电容MOS管M7和MOS管M8,并且把节点Vg1和Cg2连接,把Vg2和Cg1连接,MOS管M7和MOS管M3接法完全一致,MOS管M8与MOS管M7接法完全一致。
4.根据权利要求3所述的标准逻辑工艺兼容的差分架构NVM存储器单元,其特征在于:浮栅上多添加了两个相同MOS管,其接法与作用与MOS管M2和MOS管M5一样。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州宽温电子科技有限公司,未经苏州宽温电子科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310090971.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。