[发明专利]钼化合物/钼合金粉末掺杂元素分布微观均匀性检测方法无效
申请号: | 201310102245.0 | 申请日: | 2013-03-27 |
公开(公告)号: | CN103196933A | 公开(公告)日: | 2013-07-10 |
发明(设计)人: | 冯鹏发;杨秦莉;赵虎;刘仁智;付静波 | 申请(专利权)人: | 金堆城钼业股份有限公司 |
主分类号: | G01N23/22 | 分类号: | G01N23/22;G01N1/28;G01N1/38 |
代理公司: | 西安弘理专利事务所 61214 | 代理人: | 罗笛 |
地址: | 710077 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 化合物 合金 粉末 掺杂 元素 分布 微观 均匀 检测 方法 | ||
1.钼化合物/钼合金粉末掺杂元素分布微观均匀性的检测方法,其特征在于,将待检测的钼化合物粉末和钼合金粉末进行压片后烘干,再经过冷却后真空包装,最后在扫描电镜上进行能量弥散X射线光谱图检测并分析掺杂元素分布的微观均匀性。
2.根据权利要求1所述的钼化合物/钼合金粉末掺杂元素分布微观均匀性的检测方法,其特征在于,对于钼粉、钼酸铵可直接进行压片;对于三氧化钼、二氧化钼在压片前进行如下处理:将去离子水加热后加入聚乙烯醇形成悬浮液,再将悬浮液搅拌至完全清澈,得到粘结剂胶体,将粘结剂胶体和三氧化钼或二氧化钼粉末均匀混合,得到待检测的三氧化钼或二氧化钼粉末粉末。
3.根据权利要求1或2所述的钼化合物/钼合金粉末掺杂元素分布微观均匀性的检测方法,其特征在于,所述去离子水加热至50~80℃后保温,所述聚乙烯醇为分子量为25000~35000的低聚合度聚乙烯醇,所述低聚合度聚乙烯醇与所述去离子水的质量比为1:5~8,所述悬浮液在50~80℃的温度下搅拌,所述粘结剂胶体与所述钼化合物粉末的重量比为0.01~0.1:1。
4.根据权利要求3所述的钼化合物/钼合金粉末掺杂元素分布微观均匀性的检测方法,其特征在于,所述待检测的钼化合物和钼合金粉末的质量不少于5g。
5.根据权利要求4所述的钼化合物/钼合金粉末掺杂元素分布微观均匀性的检测方法,其特征在于,所述压片是将检测的钼化合物粉末或钼合金粉末倒入圆柱形模具内,在不低于20MPa的压力下保压3~10min后逐步泄压,再将其从模具中取出。
6.根据权利要求5所述的钼化合物/钼合金粉末掺杂元素分布微观均匀性的检测方法,其特征在于,所述烘干的温度不高于60℃,时间为30min。
7.根据权利要求6所述的钼化合物/钼合金粉末掺杂元素分布微观均匀性的检测方法,其特征在于,当掺杂元素含量高于2wt%时,分别获取主元素和掺杂元素的能量弥散X射线分布光谱图,进行对照,进而分析掺杂元素的微观均匀性。
8.根据权利要求6所述的钼化合物/钼合金粉末掺杂元素分布微观均匀性的检测方法,其特征在于,当掺杂元素含量高于2wt%时,在整个视野内任意选取若干个微小区域,分别进行能谱扫描,获得掺杂元素的含量值后,进行比较,进而分析掺杂元素的微观均匀性。
9.根据权利要求6所述的钼化合物/钼合金粉末掺杂元素分布微观均匀性的检测方法,其特征在于,当掺杂元素含量低于2wt%时,在整个视野内任意选取若干个微小区域,分别进行能谱扫描,获得掺杂元素的含量值后,进行比较,进而分析掺杂元素的微观均匀性。
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