[发明专利]一种基于定长协议数据包长度异常的处理方法有效
申请号: | 201310108509.3 | 申请日: | 2013-03-29 |
公开(公告)号: | CN103220168A | 公开(公告)日: | 2013-07-24 |
发明(设计)人: | 周渊;王琦;贾依菲;赵俊艺;宋宝相 | 申请(专利权)人: | 西安空间无线电技术研究所 |
主分类号: | H04L12/24 | 分类号: | H04L12/24;H04L1/00 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 安丽 |
地址: | 710100 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 定长 协议 数据包 长度 异常 处理 方法 | ||
1.一种基于定长协议数据包长度异常的处理方法,其特征在于步骤如下:
1)对输入的数据流进行提同步处理,并对每一个数据包的字节长度进行计数和检查;
2)将步骤1)中进行同步处理和长度检查后的数据包按顺序依次写入N个双端口RAM中,在写入数据的过程中将长数据包截短至长度L;之后再将N个双端口RAM中的数据包按顺序依次读出;同时设置一个写计数器,记录写入每个双端口RAM中数据包的字节数;每写一次双端口RAM后重置该写计数器;所述写计数器的值小于或等于L;所述的双端口RAM的储存深度不小于L,且每块双端口RAM一次只存储一个数据包;
3)根据步骤2)中所述的写计数器的值,决定是否需要对从第i块双端口RAM中读取的数据包进行补长处理;当写计数器的值等于L时,则直接从该写计数器对应的双端口RAM中读出L个字节的数据包;当写计数器的值小于L时,将储存在第i块双端口RAM中的数据全部读出,数据不足L的部分填充固定值,直至将读出的数据包补长至L;所述的固定值区别于从第i块双端口RAM中读出的真实数据。
2.根据权利要求1所述的一种基于定长协议数据包长度异常的处理方法,其特征在于:所述步骤1)中对输入的数据流进行提同步处理,并对数据包的字节长度计数和检查的具体过程为:根据数据协议,对数据包进行同步处理,采用1比特的同步信号卡住接收的数据包,标识该数据包的起始位置;采用计数器统计数据包的字节长度,从1开始计数;当接收的数据包字节长度超过2L时,停止计数,计数器的值定格在2L;当接收的数据包字节长度小于或等于2L时,则计数器正常计数。
3.根据权利要求1所述的一种基于定长协议数据包长度异常的处理方法,其特征在于:所述步骤2)中将同步处理和长度检查后的数据包按顺序依次写入N个双端口RAM中并进行长数据包截短处理的具体过程为:设正常的数据包长度为L,当经同步处理后的数据包字节长度大于L时,仅将该数据包中前L字节长度的数据写入双端口RAM中;当经同步处理后的数据包字节长度等于或小于L时,则将该数据包全部写入双端口RAM中;当把数据包写入第N块双端口RAM后,下一数据包将重新写入第1块双端口RAM中并覆盖第1块双端口RAM中的原有数据;设置写指针WPi,表示当前数据包写入的双端口RAM编号为i,其中1≤i≤N;设置读指针RPj,表示当前读出数据包的双端口RAM编号为j,其中1≤j≤N;当将数据包写入到第i块双端口RAM后,需判断WPi+1是否等于RPj;如果WPi+1不等于RPj,WPi的值加1,并将下一个数据包写入第i+1块双端口RAM中;如果WPi+1等于RPj,则WPi的值保持不变,下一个数据包仍然写入第i块双端口RAM中并覆盖原有数据。
4.根据权利要求1所述的一种基于定长协议数据包长度异常的处理方法,其特征在于:所述步骤2)中将数据包从N个双端口RAM中读出的具体过程为:设置写指针WPi,表示当前数据包写入的双端口RAM编号为i,其中1≤i≤N;设置读指针RPj,表示当前读出数据包的双端口RAM编号为j,其中1≤j≤N;当第i块双端口RAM写计数器的值不为0,并且读指针RPj与写指针WPi不相等时,从该块双端口RAM中读取数据,之后读指针RPj加1,准备读取下一块双端口RAM中的数据;当读指针RPj等于写指针WPi,或者第i块双端口RAM写计数器的值为0时,RPj的值保持不变,并停止读取数据;当从第N块双端口RAM中读完数据后,则重新回到第1块双端口RAM中循环读取数据。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安空间无线电技术研究所,未经西安空间无线电技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310108509.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:无线传感器网络静止目标定位方法及系统
- 下一篇:晶圆缺陷抽样检测系统及其方法