[发明专利]一种基于定长协议数据包长度异常的处理方法有效
申请号: | 201310108509.3 | 申请日: | 2013-03-29 |
公开(公告)号: | CN103220168A | 公开(公告)日: | 2013-07-24 |
发明(设计)人: | 周渊;王琦;贾依菲;赵俊艺;宋宝相 | 申请(专利权)人: | 西安空间无线电技术研究所 |
主分类号: | H04L12/24 | 分类号: | H04L12/24;H04L1/00 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 安丽 |
地址: | 710100 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 定长 协议 数据包 长度 异常 处理 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种基于定长协议数据包长度异常的处理方法,适应于在处理定长数据协议或分组处理协议中,对数据长度异常的数据包进行处理。
背景技术
在定长数据处理协议或分组处理协议中,处理的数据包均是固定长度。例如ATM(Asynchronous Transfer Mode,异步传输模式)分组协议、CCSDS(Consultative Committee for Space Data Systems,空间数据系统咨询委员会)规定的AOS(Advanced Orbiting Systems,高级在轨系统)协议等。
对定长的数据包进行处理过程中,发现接收的数据包长度异常时,如果不进行处理,可能会对系统功能造成灾难性后果。目前对长度异常数据包的通常处理方法是将异常的数据丢弃。华为技术有限公司提供了一种定长数据包的传输方法,该方法包括:A.在定长数据包的数据输入过程中进行正确性判断,根据判断结果,设置相应的标志位,并将设置有标志位的定长数据包写入一级缓存;B.将一级缓存中的定长数据包读出,并根据相应的标志位作出判断,然后将定长数据包写入二级缓存或直接丢弃。利用本发明提供的方法传输定长数据包,将定长数据包与其标志位采用同一缓存处理,有效地避免了数据包与标志位不对应所带来的数据包传输错误,同时,采用同一缓存处理简化了定长数据包丢弃错误数据包的流程及数据处理的内部逻辑。该方法发现错误时其处理方式是将错误数据包直接丢弃,这种做法不利于对故障进行分段定位和分析。长度异常的数据通常携带着有用的信息,因此对对长度异常的数据包进行合理处理,将长包截短、短包补长,最大程度的保留原来异常数据包的内容,有利于在数据包长度异常情况下对故障进行分段定位和分析。
发明内容
本发明解决的技术问题是:克服现有技术的不足,提供了一种基于定长协议数据包长度异常的处理方法,针对处理定长数据协议或分组处理协议,最大程度地保留原始的异常数据,为故障定位和分析提供参考。
本发明的技术方案是:一种基于定长协议数据包长度异常的处理方法,步骤如下:
1)对输入的数据流进行提同步处理,并对每一个数据包的字节长度进行计数和检查;
2)将步骤1)中进行同步处理和长度检查后的数据包按顺序依次写入N个双端口RAM中,在写入数据的过程中将长数据包截短至长度L;之后再将N个双端口RAM中的数据包按顺序依次读出;同时设置一个写计数器,记录写入每个双端口RAM中数据包的字节数;每写一次双端口RAM后重置该写计数器;所述写计数器的值小于或等于L;所述的双端口RAM的储存深度不小于L,且每块双端口RAM一次只存储一个数据包;
3)根据步骤2)中所述的写计数器的值,决定是否需要对从第i块双端口RAM中读取的数据包进行补长处理;当写计数器的值等于L时,则直接从该写计数器对应的双端口RAM中读出L个字节的数据包;当写计数器的值小于L时,将储存在第i块双端口RAM中的数据全部读出,数据不足L的部分填充固定值,直至将读出的数据包补长至L;所述的固定值区别于从第i块双端口RAM中读出的真实数据。
所述步骤1)中对输入的数据流进行提同步处理,并对数据包的字节长度计数和检查的具体过程为:根据数据协议,对数据包进行同步处理,采用1比特的同步信号卡住接收的数据包,标识该数据包的起始位置;采用计数器统计数据包的字节长度,从1开始计数;当接收的数据包长度超过2L时,停止计数,计数器的值定格在2L;当接收的数据包长度小于或等于2L时,则计数器正常计数;
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安空间无线电技术研究所,未经西安空间无线电技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310108509.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:无线传感器网络静止目标定位方法及系统
- 下一篇:晶圆缺陷抽样检测系统及其方法