[发明专利]将半导体芯片从箔拆下的方法有效
申请号: | 201310113448.X | 申请日: | 2013-03-22 |
公开(公告)号: | CN103367136B | 公开(公告)日: | 2017-08-25 |
发明(设计)人: | 恩斯特·巴尔梅特勒;费边·赫斯希勒;布莱恩·普利斯 | 申请(专利权)人: | 贝思瑞士股份公司 |
主分类号: | H01L21/301 | 分类号: | H01L21/301 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司11219 | 代理人: | 梁晓广,关兆辉 |
地址: | 瑞士*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 芯片 拆下 方法 | ||
1.借助于芯片夹具(16)和管芯排出器(1)将半导体芯片(5)从箔(4)拆下的方法,其中所述管芯排出器(1)包括具有直线支承边缘的内板(8A)和具有L型支承边缘的外板(8B、8C),所述内板和外板(8A、8B、8C)突出到盖板(3)的中心孔中,并且其中位于初始位置的所述板(8A、8B、8C)的所述支承边缘(19)形成所述箔(4)搁置在其上的支承平面,所述方法包括以下步骤:
A)提升所述板(8A、8B、8C),使得所述板(8A、8B、8C)的所述支承边缘(19)占据所述盖板(3)的表面(12)上方的高度H1;
B)降低最外部的一对外板(8C);
C)至少提升还未被降低的所述板,使得还没有被降低的所述板的所述支承边缘(19)占据所述盖板(3)的所述表面(12)上方的高度H2>H1;
D)按照特定的顺序,交错降低还未被降低的板,并且至少一个或多个板(8A)未被降低;
E)将所述芯片夹具(16)定位在所述半导体芯片(5)上方;
F)在降低最后三个板之前,降低所述芯片夹具(16)使其与所述半导体芯片(5)接触;
G)降低还未被降低的板直到所有的板(8A)都被降低;
其中步骤A至D按上面列出的顺序并且在步骤F和G之前执行。
2.根据权利要求1所述的方法,其中两个另外的外板被布置以形成第二对第二外部的板(8B),所述方法进一步包括:
在步骤B之后,降低第二对外板(8B)。
3.根据权利要求1或2所述的方法,进一步包括:
在步骤D之后,至少降低还未被降低的所述板,使得还未被降低的所述板的支承边缘占据所述盖板(3)的所述表面上方的高度H3<H2。
4.根据权利要求1或2所述的方法,其中所述板(8A、8B、8C)被固定到载体(9),所述载体(9)能够垂直于所述盖板(3)的所述表面(12)移位,并且所述板(8A、8B、8C)能够相对于所述载体(9)被提升和降低,在初始位置所述载体(9)被设置在预定位置z0中,并且相对于所述载体(9)提升所述板(8A、8B、8C),使得所述板(8A、8B、8C)的所述支承边缘(19)形成所述箔(4)搁置在其上的支承平面,并且其中所述方法进一步包括:
在步骤A中将所述载体(9)提升预定距离Δz1;
在步骤C中将所述载体(9)提升预定距离Δz2。
5.根据权利要求3所述的方法,其中所述板(8A、8B、8C)被固定到载体(9),所述载体(9)能够垂直于所述盖板(3)的所述表面(12)移位,并且所述板(8A、8B、8C)能够相对于所述载体(9)被提升和降低,在初始位置所述载体(9)被设置在预定位置z0中,并且相对于所述载体(9)提升所述板(8A、8B、8C),使得所述板(8A、8B、8C)的所述支承边缘(19)形成所述箔(4)搁置在其上的支承平面,并且其中所述方法进一步包括:
在步骤A中将所述载体(9)提升预定距离Δz1;
在步骤C中将所述载体(9)提升预定距离Δz2;以及
在所述步骤D之后的步骤中将所述载体(9)降低预定距离Δz3。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造