[发明专利]显示面板以及其包含的薄膜晶体管基板的制备方法有效
申请号: | 201310119477.7 | 申请日: | 2013-04-08 |
公开(公告)号: | CN104103643B | 公开(公告)日: | 2017-04-12 |
发明(设计)人: | 刘侑宗;李淂裕;黄建达 | 申请(专利权)人: | 群创光电股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;H01L21/77 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司11021 | 代理人: | 汤保平 |
地址: | 中国台湾*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示 面板 及其 包含 薄膜晶体管 制备 方法 | ||
技术领域
本发明是关于一种显示面板以及其制备方法,尤指一种用于显示面板的薄膜晶体管基板及其制备方法。
背景技术
由于近年来显示面板的普及化,成为目前市场上的主流商品,为了满足消费者对于显示面板的需求,半导体工艺技术逐渐成熟,也伴随着薄膜晶体管的工艺技术朝着快速以及低成本的方向发展。现今显示面板中的薄膜晶体管主要分为由非晶硅(Amorphous-Silicon;a-Si)、或由多晶硅(Poly-Silicon;p-Si)所制成,虽然目前薄膜晶体管尚以非晶硅的工艺为主流,然而由于以多晶硅制备的薄膜晶体管具有高亮度、高分辨率、质轻、低耗电量等优点,因此以多晶硅制备的薄膜晶体管的工艺技术被视为重要的研究目标。
传统的多晶硅薄膜晶体管的制备过程中,需要经过掺杂(doping)、掺杂活化(dopant activation)、氢化(hydrogenation)、以及去氢化(dehydrogenation)的步骤,以上步骤皆需经由热或激光能量处理,而为了使掺杂的不纯物活化,使多晶硅层的源极和漏极低电阻化,关闭电压值提高,需经由热处理或激光使之活化,已知的热处理温度大约为550-600℃,如此的高温将会限制薄膜晶体管基版的使用材料,例如无法使用塑料基板或具可挠曲特性的基板等,而激光活化的成本则相当高,为了因应现今显示面板的发展趋势,以及降低生产成本的目标,目前急需发展一种多晶硅薄膜晶体管的低温工艺,替代多晶硅的掺杂、以及掺杂活化的步骤,以节省成本,并且扩大包含多晶硅薄膜晶体管的显示面板的应用范围。
发明内容
本发明的目的是在提供一种显示面板,包括一种薄膜晶体管,以及该薄膜晶体管的制备方法。
本发明所提供的薄膜晶体管基板是包括:一基板;一第一金属层,形成于基板上;一绝缘层,形成于基板以及第一金属层上;一多晶硅层,形成于绝缘层上;一第二金属层,形成于多晶硅层及绝缘层上;一金属薄膜层,形成于第二金属层与多晶硅层之间;以及一金属硅化物,形成于多晶硅层与金属薄膜层之间。
本发明的另一目的是在提供一种薄膜晶体管基板的制备方法,该方法至少包括:(A)提供一基板;其上方依序形成一第一金属层、一绝缘层、以及一多晶硅层,其中,第一金属层是设于基板上;绝缘层是设于基板及第一金属层上;以及多晶硅层是设于绝缘层上;(B)于绝缘层及多晶硅是层上形成一金属薄膜层;(C)形成一第二金属层于金属薄膜层上;以及(D)对薄膜晶体管基板进行一退火工艺,使金属薄膜层与多晶硅层反应形成一金属硅化物。
在一实施例中,金属薄膜层是至少一选自铝、镓、铟、铊、及其合金所组成的群组。
在一实施例中,金属薄膜层厚度为1-500nm。
在一实施例中,金属薄膜层厚度为510nm。
在一实施例中,第二金属层包括一源极及一漏极,对应于源极的金属硅化物与对应漏极的金属硅化物的距离是介于1μm至20μm间。
在一实施例中,退火工艺温度为300-400℃。
附图说明
为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂,下文特举实施例,并配合附图作详细说明如下,其中:
图1A—1Q是本发明的低温多晶硅薄膜晶体管的制作流程。
图2A及图2B是本发明中金属硅化物的态样。
具体实施方式
本发明的薄膜晶体管基板的一较佳实施态样是如图1Q所示,该结构的一较佳工艺是如图1A-1Q所示。而该结构的制备方法则如下所述。
如图1A所示,提供一基板100,于该基板100上形成一第一金属层101,其中,本实施例的基板100为玻璃基板,而其他实施态样则可为塑料基板;以及该第一金属层101为钼金属,其他实施态样中则可为铝、铜、钼、钨或其合金等金属材料所制成。接着如图1B所示,利用光刻蚀刻工艺,形成一第一光阻层102于第一金属层101上,并于蚀刻第一金属层101后,再以化学溶剂去除第一光阻层102以形成如图1C中所示的栅极1011及1012。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的