[发明专利]显示面板以及其包含的薄膜晶体管基板的制备方法有效

专利信息
申请号: 201310119477.7 申请日: 2013-04-08
公开(公告)号: CN104103643B 公开(公告)日: 2017-04-12
发明(设计)人: 刘侑宗;李淂裕;黄建达 申请(专利权)人: 群创光电股份有限公司
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12;H01L21/77
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司11021 代理人: 汤保平
地址: 中国台湾*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 显示 面板 及其 包含 薄膜晶体管 制备 方法
【说明书】:

技术领域

发明是关于一种显示面板以及其制备方法,尤指一种用于显示面板的薄膜晶体管基板及其制备方法。 

背景技术

由于近年来显示面板的普及化,成为目前市场上的主流商品,为了满足消费者对于显示面板的需求,半导体工艺技术逐渐成熟,也伴随着薄膜晶体管的工艺技术朝着快速以及低成本的方向发展。现今显示面板中的薄膜晶体管主要分为由非晶硅(Amorphous-Silicon;a-Si)、或由多晶硅(Poly-Silicon;p-Si)所制成,虽然目前薄膜晶体管尚以非晶硅的工艺为主流,然而由于以多晶硅制备的薄膜晶体管具有高亮度、高分辨率、质轻、低耗电量等优点,因此以多晶硅制备的薄膜晶体管的工艺技术被视为重要的研究目标。 

传统的多晶硅薄膜晶体管的制备过程中,需要经过掺杂(doping)、掺杂活化(dopant activation)、氢化(hydrogenation)、以及去氢化(dehydrogenation)的步骤,以上步骤皆需经由热或激光能量处理,而为了使掺杂的不纯物活化,使多晶硅层的源极和漏极低电阻化,关闭电压值提高,需经由热处理或激光使之活化,已知的热处理温度大约为550-600℃,如此的高温将会限制薄膜晶体管基版的使用材料,例如无法使用塑料基板或具可挠曲特性的基板等,而激光活化的成本则相当高,为了因应现今显示面板的发展趋势,以及降低生产成本的目标,目前急需发展一种多晶硅薄膜晶体管的低温工艺,替代多晶硅的掺杂、以及掺杂活化的步骤,以节省成本,并且扩大包含多晶硅薄膜晶体管的显示面板的应用范围。 

发明内容

本发明的目的是在提供一种显示面板,包括一种薄膜晶体管,以及该薄膜晶体管的制备方法。 

本发明所提供的薄膜晶体管基板是包括:一基板;一第一金属层,形成于基板上;一绝缘层,形成于基板以及第一金属层上;一多晶硅层,形成于绝缘层上;一第二金属层,形成于多晶硅层及绝缘层上;一金属薄膜层,形成于第二金属层与多晶硅层之间;以及一金属硅化物,形成于多晶硅层与金属薄膜层之间。 

本发明的另一目的是在提供一种薄膜晶体管基板的制备方法,该方法至少包括:(A)提供一基板;其上方依序形成一第一金属层、一绝缘层、以及一多晶硅层,其中,第一金属层是设于基板上;绝缘层是设于基板及第一金属层上;以及多晶硅层是设于绝缘层上;(B)于绝缘层及多晶硅是层上形成一金属薄膜层;(C)形成一第二金属层于金属薄膜层上;以及(D)对薄膜晶体管基板进行一退火工艺,使金属薄膜层与多晶硅层反应形成一金属硅化物。 

在一实施例中,金属薄膜层是至少一选自铝、镓、铟、铊、及其合金所组成的群组。 

在一实施例中,金属薄膜层厚度为1-500nm。 

在一实施例中,金属薄膜层厚度为510nm。 

在一实施例中,第二金属层包括一源极及一漏极,对应于源极的金属硅化物与对应漏极的金属硅化物的距离是介于1μm至20μm间。 

在一实施例中,退火工艺温度为300-400℃。 

附图说明

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂,下文特举实施例,并配合附图作详细说明如下,其中: 

图1A—1Q是本发明的低温多晶硅薄膜晶体管的制作流程。 

图2A及图2B是本发明中金属硅化物的态样。 

具体实施方式

本发明的薄膜晶体管基板的一较佳实施态样是如图1Q所示,该结构的一较佳工艺是如图1A-1Q所示。而该结构的制备方法则如下所述。 

如图1A所示,提供一基板100,于该基板100上形成一第一金属层101,其中,本实施例的基板100为玻璃基板,而其他实施态样则可为塑料基板;以及该第一金属层101为钼金属,其他实施态样中则可为铝、铜、钼、钨或其合金等金属材料所制成。接着如图1B所示,利用光刻蚀刻工艺,形成一第一光阻层102于第一金属层101上,并于蚀刻第一金属层101后,再以化学溶剂去除第一光阻层102以形成如图1C中所示的栅极1011及1012。 

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