[发明专利]PCB板低阻和开短路同步测试系统无效
| 申请号： | 201310132663.4 | 申请日： | 2013-04-17 |
| 公开（公告）号： | CN103217619A | 公开（公告）日： | 2013-07-24 |
| 发明（设计）人： | 李泽清 | 申请（专利权）人： | 竞陆电子（昆山）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/02 | 分类号： | G01R31/02;G01R27/02 |
| 代理公司： | 昆山四方专利事务所 32212 | 代理人： | 盛建德 |
| 地址： | 215300 江苏省苏州市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | pcb 板低阻 短路 同步 测试 系统 | ||
【权利要求书】：
1.一种PCB板低阻和开短路同步测试系统，用于同步完成测试PCB板（1）的普通测试线路（2）和低阻测试线路（3），所述普通测试线路具有第一测试焊盘（4），所述低阻测试线路具有第二测试焊盘（5），其特征在于：所述测试系统包括测试机台和测试治具，所述测试机台包括普通测试模块和低阻测试模块，所述普通测试模块能够测试普通测试线路的开短路，所述低阻测试模块能够同时测试低阻测试线路的开短路和低阻；对应每个所述第一测试焊盘，所述测试治具设有一支第一测试探针（6），所述第一测试探针与所述普通测试模块电连接；对应每个所述第二测试焊盘，所述测试治具设有两支第二测试探针（7），所述第二测试探针与所述低阻测试模块电连接。
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