[发明专利]PCB板低阻和开短路同步测试系统

说明书

技术领域

本发明涉及一种PCB板测试系统，具体涉及一种PCB板低阻和开短路同步测试系统。

背景技术

在PCB板生产加工工艺中，印刷的铜线路的厚薄直接影响PCB板的导通电阻，铜线路偏薄时，导通电阻会变大。因此，生产加工后的PCB板，存在两种不同要求测试的线路，即需要进行普通开短路测试的线路和需要同时进行普通开短路测试和低阻测试的线路。而现有技术中，测试治具对应上述两种不同测试要求的线路的每个测试焊盘均设置一支测试探针，即所谓的两线式测试，这种形式的测试治具虽然可满足普通测试线路的需求，但是无法满足同时进行普通开短路测试和低阻测试的线路的需求，这是因为，进行低阻测试时，通常要采用四线式测试完成，两线式测试无法测出微小阻值差异。因此，PCB板在进行正常开短路测试后，需要再加一次四线式低阻测试，即通常需要两次测试才可以完成。这样，就存在测试流程繁琐，重复测试作业的问题。测试流程繁琐将直接导致测试工作效率低的问题，且一块PCB板经过多次测试可能会对PCB板造成不必要的刮伤，产生不良产品。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明提出一种PCB板低阻和开短路同步测试系统，能够一次性完成PCB板低阻测试和开短路测试，简化PCB板测试作业流程，提高PCB板测试工作效率。

本发明的技术方案是这样实现的：

一种PCB板低阻和开短路同步测试系统，用于同步完成测试PCB板的普通测试线路和低阻测试线路，所述普通测试线路具有第一测试焊盘，所述低阻测试线路具有第二测试焊盘，所述测试系统包括测试机台和测试治具，所述测试机台包括普通测试模块和低阻测试模块，所述普通测试模块能够测试普通测试线路的开短路，所述低阻测试模块能够同时测试低阻测试线路的开短路和低阻；对应每个所述第一测试焊盘，所述测试治具设有一支第一测试探针，所述第一测试探针与所述普通测试模块电连接；对应每个所述第二测试焊盘，所述测试治具设有两支第二测试探针，所述第二测试探针与所述低阻测试模块电连接。

本发明的有益效果是：本发明提供一种PCB板低阻和开短路同步测试系统，对应普通测试线路的每个第一测试焊盘按现有技术方式设置一支测试探针，可进行普通开短路测试；对应低阻测试线路的每个第二测试焊盘设置两支测试，两支测试探针可满足四线式低阻测试的需求，因此，可对低阻测试线路的普通开短路进行测试的同时，对低阻测试线路的低阻进行四线式测试。这样，同一套治具包括两种设针模式，配合测试机台的两种测试模块，可一次性完成普通开短路测试和四线式低阻测试，达到减少测试流程，提高测试工作效率的目的，且测试流程的减少，避免了多次重复测试，从而避免重复测试对PCB板造成的不必要的刮伤，提高产品良率。

附图说明

图1为本发明原理示意图。

结合附图，作以下说明：

1——PCB板                 2——普通测试线路

3——低阻测试线路          4——第一测试焊盘

5——第二测试焊盘          6——第一测试探针

7——第二测试探针

具体实施方式

如图1所示，一种PCB板低阻和开短路同步测试系统，用于同步完成测试PCB板1的普通测试线路2和低阻测试线路3，所述普通测试线路具有第一测试焊盘4，所述低阻测试线路具有第二测试焊盘5，所述测试系统包括测试机台和测试治具，所述测试机台包括普通测试模块和低阻测试模块，所述普通测试模块能够测试普通测试线路的开短路，所述低阻测试模块能够同时测试低阻测试线路的开短路和低阻；对应每个所述第一测试焊盘，所述测试治具设有一支第一测试探针6，所述第一测试探针与所述普通测试模块电连接；对应每个所述第二测试焊盘，所述测试治具设有两支第二测试探针7，所述第二测试探针与所述低阻测试模块电连接。

对应普通测试线路的每个第一测试焊盘按现有技术方式设置一支测试探针，可进行普通开短路测试；对应低阻测试线路的每个第二测试焊盘设置两支测试，两支测试探针可满足四线式低阻测试的需求，因此，可对低阻测试线路的普通开短路进行测试的同时，对低阻测试线路的低阻进行四线式测试。这样，同一套治具包括两种设针模式，配合测试机台的两种测试模块，可一次性完成普通开短路测试和四线式低阻测试，达到减少测试流程，提高测试工作效率的目的，且测试流程的减少，避免了多次重复测试，从而避免重复测试对PCB板造成的不必要的刮伤，提高产品良率。

以上实施例是参照附图，对本发明的优选实施例进行详细说明。本领域的技术人员通过对上述实施例进行各种形式上的修改或变更，但不背离本发明的实质的情况下，都落在本发明的保护范围之内。