[发明专利]一种集成电路的测试装置及方法

权利要求书

1.一种集成电路的测试装置，包括输入通道和输出通道，其特征在于，包括：

输入单元，包括与所述输入通道连接的串行输入端及与待测芯片输入端对应的至少一个并行输出端；

至少一个第一控制开关，用于在使能时使对应并行输出端与所述待测芯片输入端之间导通、在禁能时使对应并行输出端与所述待测芯片输入端之间关断；

控制单元，用于为所述至少一个第一控制开关并行提供控制信号，所述第一控制开关设置为当所接收的控制信号为第一电平时使能、当所接收的控制信号为第二电平时禁能；

输出单元，包括与待测芯片输出端对应的至少一个并行输入端及与所述输出通道连接的串行输出端。

2.如权利要求1所述的集成电路的测试装置，其特征在于，所述输入单元还包括能够存放位数不少于所述待测芯片输入端数目的二进制序列的第一移位寄存器。

3.如权利要求2所述的集成电路的测试装置，其特征在于，

所述串行输入端，用于接收所述输入通道提供的测试信号；

所述第一移位寄存器，用于按接收顺序将所述测试信号依次传输至所述并行输出端；

所述并行输出端，用于并行输出所传输的测试信号至对应待测芯片输入端。

4.如权利要求3所述的集成电路的测试装置，其特征在于，所述输入单元还包括：电平转换器，用于对所述第一移位寄存器传输的测试信号进行电平转换并将电平转换后的测试信号传输至对应并行输出端。

5.如权利要求1所述的集成电路的测试装置，其特征在于，所述输出单元还包括能够存放位数不少于所述待测芯片输出端数目的二进制序列的第二移位寄存器。

6.如权利要求1所述的集成电路的测试装置，其特征在于，

所述并行输入端，用于接收对应待测芯片输出端输出的电信号；

所述第二移位寄存器，用于将所述电信号形成的电信号序列从高位到低位按顺序依次传输至所述串行输出端；

所述串行输出端，用于串行输出所述电信号序列至所述输出通道。

7.如权利要求1所述的集成电路的测试装置，其特征在于，还包括设于所述并行输入端和对应待测芯片输出端之间的第二控制开关，所述第二控制开关设置为当所述第一控制开关使能时使能、当所述第一控制开关禁能时禁能。

8.如权利要求6所述的集成电路的测试装置，其特征在于，还包括通过所述输出通道与所述串行输出端连接的验证单元，所述验证单元包括：

检测单元，用于检测所述电信号序列；

判定单元，用于当判断所述电信号序列中的一位电信号为异常数据，通过该电信号于电信号序列中的位置判定对应待测芯片为异常芯片。

9.一种集成电路的测试方法，应用如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，包括：

为所述至少一个第一控制开关并行提供控制信号；

所述输入单元将所述输入通道提供测试信号传输至至少一个待测芯片；

所述输出单元将至少一个待测芯片输出的电信号形成电信号序列并传输至所述输出通道；

验证所述输出通道输出的电信号序列。

10.如权利要求9所述的集成电路的测试方法，其特征在于，所述第一控制开关设置为当所接收的控制信号为第一电平时使能、当所接收的控制信号为第二电平时禁能；各控制信号在至少一个周期内保持第一电平或第二电平以使进行测试项目的待测芯片的功耗之和适应所述测试装置的电源功率。

11.如权利要求10所述的集成电路的测试方法，其特征在于，所述周期为待测芯片完成所述测试项目所需的时间。