[发明专利]一种对高压绝缘子等值盐密测量的方法

权利要求书

1.一种对高压绝缘子等值盐密测量的方法，其特征在于，包括：

将待测的高压绝缘子表面均匀地划分为多个区域，在每个区域中，分别任意选取一处作为测量点；

消除所述测量点处的憎水性；

在所述消除憎水性后的测量点处喷一层水膜；

测量所述测量点处的局部表面电导率；

根据多个所述测量点处的局部表面电导率，得到平均局部表面电导率；

根据所述平均局部表面电导率得到绝缘子的等值盐密值。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将待测的高压绝缘子表面至少分成12个区域。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，采用高岭土悬浊液、蒸馏水或者高压等离子放电枪消除所述测量点处的憎水性。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，采用所述高岭土悬浊液消除所述测量点处的憎水性的方法包括：

在所述测量点处滴一定量的高岭土悬浊液；

经过若干秒后，将悬浊液吸干。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，采用所述蒸馏水消除所述测量点处的憎水性的方法包括：

在所述测量点处滴一定量的蒸馏水；

经过若干秒后，将蒸馏水吸干。

6.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，采用所述高压等离子放电枪消除所述测量点处的憎水性的方法包括，将高压等离子介质阻挡放电(DBD)枪对选取的测量点放电30秒-1分钟。

7.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在所述测量点处滴体积范围是O．3～O．7ml的高岭土悬浊液。

8.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，在所述测量点处滴体积范围是O．3～O．7ml的蒸馏水。

9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，采用绝缘子局部表面电导率测量装置测量所述测量点处的局部表面电导率。

10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，采用绝缘子局部表面电导率测量装置测量所述测量点处的局部表面电导率包括：

选择一处喷过水膜的测量点；

将所述绝缘子局部表面电导率测量装置的测量探头的两极与所选择的测试点的不同位置相接触；

读出测量值。

11.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述平均局部表面电导率得到绝缘子的等值盐密值包括：

根据测量时的温度，将所述平均局部表面电导率转换成20℃时的平均局部表面电导率；

根据所述测量点处20℃时平均局部表面电导率得到测量点处的等值盐密值。

12.根据权利要求11所述的方法，其特征在于，根据测量时的温度，利用公式：

σp20=σpt1.61+0.03t]]>

将所述平均局部表面电导率转换成20℃时的平均局部表面电导率，其中，σ_p2O表示20。C时，所述绝缘子局部表面的电导率，σ_pt表示测量出的所述绝缘子局部表面的电导率，，表示测量时的温度。