[发明专利]一种对高压绝缘子等值盐密测量的方法

说明书

技术领域

本发明涉及高压与绝缘技术领域，尤其涉及一种对高压绝缘子等值盐密测量的方法。

背景技术

由于环境条件的逐年恶化和电压等级的升高等因素，使得电力系统对防污闪事故的发生提出了更高的要求。绝缘子表面等值盐密是一个影响污闪电压的重要因素，因此，对其的测量监控是十分必要的。高压线路中，复合绝缘子（high temperature vulcanized silicone rubber，HTV）和喷涂室温硫化硅橡胶（room temperature vulcanized silicone rubber，RTV）材料的电瓷绝缘子被广泛地使用，因为这些硅橡胶材料的绝缘子表面具有良好的憎水性和特有的憎水迁移性，使得其具有优良的防污闪性能。

针对这种强憎水性表面的等值盐密的测量，目前主要有两种方法：1、采样巾采样测量的方法。具体的方法步骤包括：戴上手套，从密封袋中取出采样巾，分别擦拭绝缘子上下表面。用多张采样巾反复擦拭绝缘子表面，直至污秽全部转移到采样巾上，然后根据所测绝缘子的表面积，量取一定的去离子水到容器内，将采样巾上的污秽充分溶于水中，测量溶液的电导率，并记录温度，将溶液电导率折算到20摄氏度下的值，并由含盐量——电导率曲线查出含盐量，根据含盐量和绝缘子表面积计算出等值盐密值。；2、刷洗法。具体的方法步骤为：根据待测绝缘子的表面积，配制一定量的蒸馏水，用海绵浸水后擦拭绝缘子表面，然后将海绵上的污物洗至烧杯中，重复此操作3-5次，然后将烧杯中的污液充分搅拌后，测量溶液的电导率，并记录温度，将溶液电导率折算到20摄氏度下的值，并由含盐量——电导率曲线查出含盐量，根据含盐量和绝缘子表面积计算出等值盐密值。

两种测量具有强憎水性表面的绝缘子等值盐密的方法，对绝缘子表面污层都是破坏性的，因此它们只能测量出一段时间绝缘子表面积污量的等值盐密，不能够对污秽等值盐密值随时间的变化过程做出描述，不能很好的描述出强憎水性绝缘子表面的积污规律。

发明内容

本发明提出了一种对高压绝缘子等值盐密测量的方法，实现了在不破坏绝缘子表面污层的条件下，对绝缘子表面的等值盐密值进行测量，并且能够对绝缘子表面等值盐密随时间的变化进行监测，提高了测量的准确度。所述技术方案如下：

一种对高压绝缘子等值盐密测量的方法，包括：

将待测的高压绝缘子表面均匀地划分为多个区域，在每个区域中，分别任意选取一处作为测量点；

消除所述测量点处的憎水性；

在所述消除憎水性后的测量点处喷一层水膜；

测量所述测量点处的局部表面电导率；

根据多个所述测量点处的局部表面电导率，得到平均局部表面电导率；

根据所述平均局部表面电导率得到绝缘子的等值盐密值。

进一步的，所述将待测的高压绝缘子表面至少分成12个区域。

进一步的，采用高岭土悬浊液、蒸馏水或者高压等离子放电枪消除所述测量点处的憎水性。

进一步的，采用所述高岭土悬浊液消除所述测量点处的憎水性的方法包括：

在所述测量点处滴一定量的高岭土悬浊液；

经过若干秒后，将悬浊液吸干。

进一步的，采用所述蒸馏水消除所述测量点处的憎水性的方法包括：

在所述测量点处滴一定量的蒸馏水；

经过若干秒后，将蒸馏水吸干。

进一步的，采用所述高压等离子放电枪消除所述测量点处的憎水性的方法包括，将高压等离子介质阻挡放电（DBD）枪对选取的测量点放电30秒-1分钟。

进一步的，在所述测量点处滴体积范围是0.3～0.7ml的高岭土悬浊液。

进一步的，在所述测量点处滴体积范围是0.3～0.7ml的蒸馏水。

进一步的，采用绝缘子局部表面电导率测量装置测量所述测量点处的局部表面电导率。

进一步的，采用绝缘子局部表面电导率测量装置测量所述测量点处的局部表面电导率包括：

选择一处喷过水膜的测量点；

将所述绝缘子局部表面电导率测量装置的测量探头的两极与所选择的测试点的不同位置相接触；

读出测量值。

进一步的，根据所述平均局部表面电导率得到绝缘子的等值盐密值包括：

根据测量时的温度，将所述平均局部表面电导率转换成20℃时的平均局部表面电导率；

根据所述测量点处20℃时平均局部表面电导率得到测量点处的等值盐密值。

进一步的，根据测量时的温度，利用公式：