[发明专利]内嵌于芯片的USB转JTAG调试装置及其调试方法

权利要求书

1.一种内嵌于芯片的USB转JTAG调试装置，包括：USB收发装置、控制处理器、JTAG接口汇总模块以及若干调试处理器，

所述USB收发装置接收所述外围PC机输出的调用指令；

所述控制处理器接收所述调用指令，并根据所述调用指令对所述JTAG接口汇总模块进行配置；

所述JTAG接口汇总模块根据所述控制处理器的配置，转换输出不同的JTAG时序指令至相应的调试处理器；

所述调试处理器接收相应所述JTAG时序指令进行调试，并将调试结果以此经过所述JTAG接口汇总模块、控制处理器及USB收发装置反馈输出至所述外围PC机，以完成调试过程。

2.如权利要求1所述的内嵌于芯片的USB转JTAG调试装置，其特征在于，所述控制处理器包括若干I/O端口，所述控制处理器通过所述I/O端口接收所述USB收发装置传输的调用指令，并通过所述I/O端口输出JTAG接口的控制命令。

3.如权利要求1所述的内嵌于芯片的USB转JTAG调试装置，其特征在于，所述控制处理器包括控制处理模块，所述控制处理模块通过接收、发送USB收发装置可识别的数据传输包实现与外围PC机交互，所述控制处理模块解析所述外围PC机发送过来的带有命令和参数信息的数据传输包，并采用程序控制的方式控制JTAG接口汇总模块完成对调试处理器的调试过程，最终将从调试处理器获取到的调试结果，再以数据传输包的形式反馈给外围PC机，以完成整个调试的过程。

4.如权利要求1至3中任意一项所述的内嵌于芯片的USB转JTAG调试装置，其特征在于，所述外围PC机的调试指令包括复位、获取状态、读取调试处理器信息、设置断点、读写调试处理器以及读写调试处理器内容。

5.如权利要求1至3中任意一项所述的内嵌于芯片的USB转JTAG调试装置，其特征在于，所述JTAG接口汇总模块还包括JTAG引脚，所述JTAG引脚通过所述芯片引脚引出。

6.一种内嵌于芯片的USB转JTAG调试装置的调试方法，所述USB转JTAG调试装置包括：USB收发装置、控制处理器、JTAG接口汇总模块以及若干调试处理器，所述调试方法包括：

外围PC机发送调试指令；

所述USB收发装置接收所述调试指令，并传递给所述控制处理器；

所述控制处理器将所述USB收发装置传递的调用指令转换为JTAG接口的控制命令并输出；

所述JTAG接口汇总模块接收所述JTAG接口的控制命令，并转化为JTAG时序指令输出；

所述调试处理器接收所述JTAG时序指令，并解析所述JTAG时序指令为相应调试信号，进行调试；

所述调试处理器的调试结果经过所述JTAG接口汇总模块、控制处理器及USB收发装置反馈输出至所述外围PC机，以完成调试过程。

7.如权利要求6所述的内嵌于芯片的USB转JTAG调试装置的调试方法，其特征在于，所述控制处理器对所述JTAG接口汇总模块进行配置过程包括：设置选择的调试处理器编号；设置需要读/写的数据；设置JTAG时钟频率；以及读写时能信号。

8.如权利要求6所述的内嵌于芯片的USB转JTAG调试装置的调试方法，其特征在于，所述控制处理器包括若干I/O端口，所述控制处理器通过所述I/O端口接收所述USB收发装置传输的调用指令，并通过所述I/O端口输出JTAG接口的控制命令；所述USB收发装置传输的调用指令被封装成USB收发装置上的数据传输包进行传输发送。

9.如权利要求8所述的内嵌于芯片的USB转JTAG调试装置的调试方法，其特征在于，所述控制处理器搭载控制处理模块，所述控制处理模块通过接收、发送USB收发装置发送的调试指令实现与外围PC机交互，所述控制处理模块解析带有调试指令和参数信息的数据传输包，并通过写寄存器通过写寄存器的方式控制JTAG接口汇总模块完成对调试处理器的调试方法，最终将从调试处理器获取到的调试结果，再以数据传输包的形式反馈给外围PC机，以完成整个调试的过程。

10.如权利要求6所述的内嵌于芯片的USB转JTAG调试装置的调试方法，其特征在于，所述调试处理器接收到所述JTAG时序指令后，会解析所述JTAG时序指令，并识别调用指令，调用相应的处理单元获取调试处理器状态信息，并将所述状态信息转换成JTAG时序回传给JTAG接口汇总模块。