[发明专利]内嵌于芯片的USB转JTAG调试装置及其调试方法

说明书

技术领域

本发明涉及SOC集成电路设计领域，尤其涉及一种内嵌于芯片的USB转JTAG调试装置及其调试方法。

背景技术

目前各类开发板调试用的接口均为JTAG接口，而连接到PC机（Personal Computer，个人计算机）都使用了USB收发装置。因此必须使用USB转JTAG调试器来连接主机与开发板，以完成对开发板中主芯片CPU的连接和调试。

随着多核技术的发展，一个多核集成电路中存在各种类别的CPU（Central Processing Unit，中央处理器），由于不同的CPU使用的调试处理器都是不同厂家提供的，功能和型号均不相同，这样对各个不同CPU进行调试时需要采购各自调试处理器对应的USB转JTAG的调试器，并且PC机需要多个USB收发装置接入对应的USB转JTAG的调试器，芯片也需要提供多个JTAG接口来实现通过调试处理器对不同CPU的调试。

传统的技术来源于单核集成电路的结构，图1是现有技术中芯片调试过程的结构示意图，如图1所示，当需要控制芯片20中的调试处理器28进行调试处理时，需要有调试处理器28相应的生产厂商提供相应的USB转JTAG调试器30外界外围PC机10完成调试工作，则不仅需要多个USB转JTAG调试器，而且需要为其调试工作预留多个USB收发装置和JTAG接口。因此，对多核集成电路已经难以为用户接受，特别难以被开发板用户接受。

发明内容

本发明的目的在于提供一种内嵌于芯片的USB转JTAG调试装置。

为解决上述技术问题，本发明提供一种内嵌于芯片的USB转JTAG调试装置，包括：USB收发装置、控制处理器、JTAG接口汇总模块以及若干调试处理器，

所述USB收发装置接收所述外围PC机输出的调用指令；

所述控制处理器接收所述调用指令，并根据所述调用指令对所述JTAG接口汇总模块进行配置；

所述JTAG接口汇总模块根据所述控制处理器的配置，转换输出不同的JTAG时序指令至相应的调试处理器；

所述调试处理器接收相应所述JTAG时序指令进行调试，并将调试结果以此经过所述JTAG接口汇总模块、控制处理器及USB收发装置反馈输出至所述外围PC机，以完成调试过程。

进一步的，所述控制处理器包括若干I/O端口，所述控制处理器通过所述I/O端口接收所述USB收发装置传输的调用指令，并通过所述I/O端口输出JTAG接口的控制命令。

进一步的，所述控制处理器包括控制处理模块，所述控制处理模块通过接收、发送USB收发装置可识别的数据传输包实现与外围PC机交互，所述控制处理模块解析外围PC机发送过来的带有命令和参数信息的数据传输包，并采用程序控制的方式控制JTAG接口汇总模块完成对调试处理器的调试过程，最终将从调试处理器获取到的调试结果，再以数据传输包的形式反馈给外围PC机，以完成整个调试的过程。

进一步的，所述外围PC机的调试指令包括复位、获取状态、读取调试处理器信息、设置断点、读写调试处理器以及读写调试处理器内容。

进一步的，所述JTAG接口汇总模块还包括JTAG引脚，所述JTAG引脚通过所述芯片引脚引出。

本发明还提供一种内嵌于芯片的USB转JTAG调试装置的调试方法，所述USB转JTAG调试装置包括：USB收发装置、控制处理器、JTAG接口汇总模块以及若干调试处理器，所述调试方法包括：

外围PC机发送调试指令；

所述USB收发装置接收所述调试指令，并传递给所述控制处理器；

所述控制处理器将所述USB收发装置传递的调用指令转换为JTAG接口的控制命令并输出；

所述JTAG接口汇总模块接收所述JTAG接口的控制命令，并转化为JTAG时序指令输出；

所述调试处理器接收所述JTAG时序指令，并解析所述JTAG时序指令为相应调试信号，进行调试；

所述调试处理器的调试结果经过所述JTAG接口汇总模块、控制处理器及USB收发装置反馈输出至所述外围PC机，以完成调试过程。

进一步的，所述控制处理器对所述JTAG接口汇总模块进行配置过程包括：设置选择的调试处理器编号；设置需要读/写的数据；设置JTAG时钟频率；以及读写时能信号。