[发明专利]用于成像系统的源侧监测装置

权利要求书

1. 一种源侧辐射探测器(SSRD) (50)，包括：

探测器模块部件(102)；以及

耦合到所述探测器模块部件的监测镜头(100)，所述探测器模块部件和所述监测镜头定位成接近x射线源(12)，所述监测镜头包括配置成接收穿过其中的来自所述x射线源的x射线(14)的多个狭缝(140、142)，所述探测器模块部件配置成探测透射所述狭缝的x射线并生成信息以跟踪所述x射线源的焦斑(200)的位置。

2. 如权利要求1所述的SSRD (50)，其中，所述多个狭缝(140、142)包括：

在第一方向布置的第一对狭缝(140)；以及

在不同的第二方向布置的第二对狭缝(142)。

3. 如权利要求1所述的SSRD (50)，其中，所述多个狭缝(140、142)包括：

在第一方向布置的第一对狭缝(140)，所述第一对狭缝生成表示所述焦斑(200)在第一方向的运动的信息；以及

在不同的第二方向布置的第二对狭缝(142)，所述第一对狭缝与所述第二对狭缝垂直，所述第二对狭缝生成表示所述焦斑在第二方向的运动的信息。

4. 如权利要求1所述的SSRD (50)，其中，所述监测镜头(100)还包括设置在所述多个狭缝之间的至少一个开口(170、172、174)，所述开口配置成接收穿过其中的来自所述x射线源(12)的x射线(14)，所述探测器模块部件(102)配置成探测透射所述开口的x射线并生成表示所述焦斑(200)的强度的信息。

5. 如权利要求1所述的SSRD (50)，其中，所述监测镜头(100)还包括多个开口(170、172、174)，每一个开口具有安装在其中的滤波器(250、252、254)，所述多个开口配置成接收穿过其中的来自所述x射线源的x射线(14)，所述探测器模块部件(102)配置成探测透射所述多个开口的x射线并生成表示所述焦斑(200)的强度的信息。

6. 如权利要求1所述的SSRD (50)，其中，所述监测镜头(100)还包括多个开口(170、172、174)，每一个开口具有安装在其中的不同滤波器(250、252、254)，所述多个开口配置成接收穿过其中的来自所述x射线源(12)的x射线(14)，所述探测器模块部件(102)配置成探测透射所述多个开口的x射线并生成表示所述x射线的功率的信息。

7. 如权利要求1所述的SSRD (50)，其中，所述监测镜头(100)还包括三个开口(170、172、174)，所述三个开口中的每一个具有安装在其中的不同滤波器(250、252、254)，所述三个开口配置成接收穿过其中的来自所述x射线源(12)的x射线(14)，所述探测器模块部件(102)配置成对比来自第一开口的输出与来自第二开口的输出以生成表示所述x射线的功率的信息。

8. 如权利要求1所述的SSRD (50)，其中，所述焦斑信息用于对从像所述监测镜头(100)一样位于所述对象(16)的相对侧的第二成像探测器(20)获取的数据进行归一化。

9. 一种用于对对象(16)成像的成像系统(10)，所述成像系统包括：

配置成向所述对象发射能量的x射线源(12)；

位于所述对象的第一侧的源侧辐射探测器(SSRD) (50)；以及

位于所述对象的第二相对侧的成像探测器(20)，所述SSRD输出用于对由所述成像探测器生成的投影数据进行归一化的数据。

10. 如权利要求9所述的成像系统(10)，其中，所述SSRD (50)包括：

探测器模块部件(102)；以及

耦合到所述探测器模块部件的监测镜头(100)，所述监测镜头包括探测器模块包括配置成接收穿过其中的来自所述x射线源(12)的x射线(14)的多个狭缝(140、142)，所述探测器模块部件配置成探测透射所述狭缝的x射线并生成信息以跟踪所述x射线源的焦斑(200)的位置。