[发明专利]用于成像系统的源侧监测装置

说明书

技术领域

一般来说，本文所公开的主题涉及成像系统，更具体地说，涉及用于成像系统的源侧焦斑监测装置。

背景技术

一些已知的成像系统，例如计算机断层扫描(CT)成像系统，包括x射线源和耦合到扫描架的探测器部件。在操作中，x射线源向定位在台架上的主体或对象发射扇形x射线束或锥形x射线束。x射线束经主体衰减之后照射到探测器部件上。在探测器部件所接收的经衰减的x射线束的强度通常取决于主体对x射线束的衰减。探测器部件的每个探测器元件产生指示所接收的经衰减x射线束的单独电信号。这些电信号统称为x射线衰减测量或x射线图像。

CT预处理操作中利用参考归一化（reference normalization）来减少或去除x射线源输出波动的影响。为此目的，传统探测器部件包括一组参考通道(reference channel，也称作参考探测器)。参考通道一般位于探测器部件的重构视场(FOV)外面一点，以使得参考通道直接从x射线源接收x射线光子而不会受到扫描主体的干扰。在操作中，参考通道监测x射线源通量并且测量的信号应用于测量的投影。由此基本上去除了测量的投影上x射线源输出的任何变化的影响。

但是，在使用CT成像系统对较大的主体或对象进行成像时，在扫描期间主体或对象可能会阻挡部分或全部参考通道。这样，在参考通道被阻挡时，参考通道接收经衰减的x射线。因此，参考通道可能生成降低图像质量的无效归一化值。更具体地说，错误的归一化可能导致显示的图像上出现条纹或伪像。

发明内容

在一个实施例中，提供一种源侧辐射探测器(SSRD)。该SSRD包括探测器模块部件以及耦合到探测器模块部件的监测镜头（mornitoring lens），探测器模块部件和监测镜头定位成接近x射线源，监测镜头包括配置成接收穿过其中的来自x射线源的x射线的多个狭缝，探测器模块部件配置成探测透射狭缝的x射线并生成信息以跟踪x射线源的焦斑的位置。

在另一个实施例中，提供一种成像系统。该成像系统包括配置成向对象发射能量的x射线源、位于对象的第一侧的源侧辐射探测器(SSRD)以及位于对象的第二相对侧的成像探测器，SSRD输出用于对由成像探测器生成的投影数据进行归一化的数据。

在又一个实施例中，提供一种校正成像数据的方法。该方法包括从源侧辐射探测器(SSRD)接收信息、从成像探测器接收投影数据集以及使用从SSRD接收的信息来校正投影数据集。

在又一个实施例中，提供一种参考跟踪辐射探测器。参考跟踪辐射探测器包括探测器模块部件以及耦合到探测器模块部件的监测镜头。探测器模块部件和监测镜头定位成接近后患者成像探测器。监测镜头包括配置成接收穿过其中的来自x射线源的x射线的多个狭缝。探测器模块部件配置成探测透射狭缝的x射线并且生成跟踪x射线源的焦斑的位置的信息。

附图说明

图1是包括根据各个实施例所形成的源侧辐射探测器(SSRD)的成像系统的简化示意框图；

图2是图1所示的SSRD的局部分解图；

图3是根据各个实施例所形成的图2所示监测镜头的正面透视图；

图4是图2所示的监测镜头的顶视图；

图5是图2所示的监测镜头的侧视图；

图6是图2所示的监测镜头的截面图；

图7是示出相对于根据各个实施例的图2所示探测器模块部件的一对狭缝和多个开口的布置的示图；

图8是可由根据各个实施例的图1所示x射线源发射的示范x射线束图样的示意图；

图9是示出可根据各个实施例生成的焦斑运动校正值的图表；

图10是示出可根据各个其它实施例生成的其它焦斑运动校正值的图表；

图11是根据各个实施例所形成的多模态成像系统的示图；

图12是图8所示系统的示意框图。

具体实施方式

通过结合附图进行阅读之后，将会更好地理解上述发明内容以及以下的某些实施例的具体详细描述。在附图示出各个实施例的功能块的简图的意义上，功能块不一定指示硬件电路之间的划分。因此，例如，功能块的一个或多个(例如处理器、控制器、电路或存储器)可通过单个硬件或者多个硬件来实现。应当理解，各个实施例并不局限于附图所示的布置和手段。