[发明专利]测试模块无效
申请号: | 201310189671.2 | 申请日: | 2013-05-21 |
公开(公告)号: | CN104181336A | 公开(公告)日: | 2014-12-03 |
发明(设计)人: | 陈石矶 | 申请(专利权)人: | 标准科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R1/02 | 分类号: | G01R1/02 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 汤保平 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测试 模块 | ||
1.一种测试模块,包括一测试盘及一测试基板,其特征在于:
该测试盘具有一上表面及相对于该上表面的一下表面;
多个放置槽,形成于该测试盘的上表面;
多个导体,贯穿该放置槽内,并于该放置槽的上表面上形成一上垫接点,于该放置槽的下表面上形成一下垫接点;
该测试基板,具有一上表面及相对于该上表面的一下表面,配置于该测试盘下方;及
多个检测区,形成于该测试基板的上表面,每该检测区具有多个检测点,每该检测接点相对于每个下垫接点。
2.根据权利要求1所述的测试模块,其中该放置槽内进一步包含至少一导正件。
3.根据权利要求2所述的测试模块,其中该导正件为定位柱。
4.根据权利要求1所述的测试模块,其中该导体的材质为金属材质。
5.根据权利要求4所述的测试模块,其中该金属材质为金、铜或镍。
6.根据权利要求1所述的测试模块,其中该测试盘的材质为高分子化合物。
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