[发明专利]电容和电感的测量方法

权利要求书

1.电容测量方法，包括步骤：

A)、将一个已知阻值R的电阻和一个待测试的电容构建出一阶RC电路；

B)、对该一阶RC电路的该电容进行充电；

C)、待该电容充电结束后，使该一阶RC电路的电阻和电容串联对接连通以形成放电回路，并在该放电回路进行放电的同时，采集并记录该电容的两端电压随时间t变化的电压值数据，记为函数u_C(t)；

D)、以对数时间Lg(t) 轴进行微分法来处理该函数u_C(t)，求取导出函数K(t)，即：                                                ；

E)、求取导出函数K(t)的曲线峰尖值所对应的对数时间Lg(t)横轴的坐标值Lg(T)，则RC时间常数τ=T；

F)、求取该电容的电容值C，即：。

2.根据权利要求1所述的电容测量方法，其特征在于：步骤B)和步骤C)中该一阶RC电路进行充电、放电操作是通过一个单刀双掷开关实现。

3.根据权利要求2所述的电容测量方法，其特征在于：该单刀双掷开关是电控开关。

4.根据权利要求3所述的电容测量方法，其特征在于：该单刀双掷开关是低导通电阻的模拟开关。

5.根据权利要求1所述的电容测量方法，其特征在于：步骤C)中对该电压值数据进行采集的采样率大于（10/τ），且对该函数u_C(t)的曲线进行滤波平滑处理。

6.电感测量方法，包括步骤：

A)、将一个已知阻值R的电阻和一个待测试的电感构建出一阶RL电路；

B)、对该一阶RL电路的该电感进行充电；

C)、待该电感充电结束后，使该一阶RL电路的电阻和电感串联对接连通以形成放电回路，并在该放电回路进行放电的同时，采集并记录该电阻的两端电压随时间t变化的电压值数据，记为函数u_R(t)；

D)、以对数时间Lg(t)轴进行微分法来处理该函数u_R(t)，求取导出函数K(t)，即：；

E)、求取导出函数K(t)的曲线峰尖值所对应的对数时间Lg(t)横轴的坐标值Lg(T)，则LC时间常数τ=T；

F)、求取该电感的电感值L，即：L=τR。

7.根据权利要求6所述的电感测量方法，其特征在于：步骤B)和步骤C)中该一阶RL电路进行充电、放电操作是通过一个单刀双掷开关实现。

8.根据权利要求7所述的电感测量方法，其特征在于：该单刀双掷开关是电控开关。

9.根据权利要求8所述的电感测量方法，其特征在于：该单刀双掷开关是低导通电阻的模拟开关。

10.根据权利要求6所述的电感测量方法，其特征在于：步骤C)中对该电压值数据进行采集的采样率大于（10/τ），且对该函数u_R(t)的曲线进行滤波平滑处理。