[发明专利]电容和电感的测量方法有效
申请号: | 201310205846.4 | 申请日: | 2013-05-29 |
公开(公告)号: | CN103308777A | 公开(公告)日: | 2013-09-18 |
发明(设计)人: | 王灵芝;吴一纯 | 申请(专利权)人: | 漳州师范学院 |
主分类号: | G01R27/26 | 分类号: | G01R27/26 |
代理公司: | 厦门市诚得知识产权代理事务所(普通合伙) 35209 | 代理人: | 何家富 |
地址: | 363000 福*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电容 电感 测量方法 | ||
技术领域
本发明涉及测试测量仪器技术领域,尤其涉及电容和电感的测量方法。
背景技术
常用的测量电容和电感的方法主要有谐振法、振荡法、交流电桥法和充放电法。电容的测量中:谐振法是将电容引入振荡电路中,使得振荡频率成为电容的函数,通过测量该频率值来计算电容值;交流电桥法将电容接入交流电桥中,调整电桥中的可调电阻和可调电容使得电桥平衡,根据平衡时电桥各臂的电阻和电容值计算被测电容值;充放电法使用交流信号源对电容充电,然后将电容接入放电电路中,通过测量电容的放电时间来计算电容值。李锻炼、向平、何明一在《仪表技术与传感器》1997年第7期发表的“抗寄生干扰的小电容测量电路研究”,公开了以上四种电容测量方法,并分析了各自的优缺点。
上述四种电容测量方法的测量电路依然比较复杂。
发明内容
为此,本发明的目的在于提供一种瞬态响应下的电容和电感测量方法,具体是:采用对数时间轴微分法对一阶RC或RL电路的瞬态响应进行数值处理,计算获得电容或电感的数值参数。
一种电容测量方法,包括步骤:
A)、将一个已知阻值R的电阻和一个待测试的电容构建出一阶RC电路;
B)、对该一阶RC电路的该电容进行充电;
C)、待该电容充电结束后,使该一阶RC电路的电阻和电容串联对接连通以形成放电回路,并在该放电回路进行放电的同时(即瞬态响应),采集并记录该电容两端的电压随时间t变化的电压值数据,记为函数uC(t);
D)、以对数时间轴Lg(t)进行微分法来处理该函数uC(t),求取导出函数K(t),即: ;
E)、求取导出函数K(t)的曲线峰尖值所对应的对数时间Lg(t)横轴的坐标值Lg(T),则RC时间常数τ= T;
F)、求取该电容的电容值C,即:。
一种电感测量方法,包括步骤:
A)、将一个已知阻值R的电阻和一个待测试的电感构建成一阶RL电路;
B)、对该一阶RL电路的该电感进行充电;
C)、待该电感充电结束后,使该一阶RL电路的电阻和电感串联对接连通以形成放电回路,并在该放电回路进行放电的同时(即瞬态响应),采集并记录该电阻两端的电压随时间t变化的电压值数据,记为函数uR(t);
D)、以对数时间Lg(t) 轴进行微分法来处理该函数uR(t),求取导出函数K(t),即:;
E)、求取导出函数K(t)的曲线峰尖值所对应的对数时间Lg(t) 横轴的坐标值Lg(T),则LC时间常数τ= T;
F)、求取该电感的电感值L,即:L=τR。
其中,步骤B)和步骤C)中该一阶RC电路或一阶RL电路进行充电、放电操作是通过一个单刀双掷开关实现。
优选的,该单刀双掷开关是电控开关。
更优选的,该单刀双掷开关是低导通电阻的模拟开关。
其中,步骤C)中对该电压值数据进行采集的采样率大于(10/τ),且对该函数uC(t)或函数uR(t)的曲线进行滤波平滑处理。
本发明克服已有四种电容测量方法测量电路较为复杂的缺点。该方法既可应用于电容测量,又可以应用于电感的测量。
附图说明
图1是本发明的电容测量原理图。
图2是本发明的电感测量原理图。
图3是本发明的一阶RC电路瞬态响应的对数时间轴微分法的数据曲线图。
具体实施方式
现结合附图和具体实施方式对本发明进一步说明。
本发明的方案是采用一阶RC或RL电路测量电容或电感的瞬态响应,用对数时间轴微分法对瞬态响应的数据进行处理并获得K(t)曲线,在t=τ的位置上出现K(t)曲线的峰尖值。因此,获得K(t)曲线峰尖的横轴坐标值即可得到RC或L/R时间常数τ,进而很容易计算出电容或电感的数值。
电容测量实施例:
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