[发明专利]适用于片上网络嵌入式IP核的测试壳

权利要求书

1.适用于片上网络嵌入式IP核的测试壳，包括并行输入端口、并行旁路寄存器、并行输出端口、串行输入端口、串行旁路寄存器、串行输出端口、测试控制寄存器、第一多路选择器，其特征在于，所述适用于片上网络嵌入式IP核的测试壳还包括并行测试响应比较器、串行测试响应比较器、正确测试响应信号并行输入端口、正确测试响应信号串行输入端口，其中：

所述并行旁路寄存器输入端接并行输入端口；

所述并行测试响应比较器第一输入端与正确测试响应信号并行输入端口连接，第二输入端接扫描链输出端，第三输入端接所述并行旁路寄存器输出端，输出端接所述并行输出端口；

所述串行旁路寄存器输入端、测试控制寄存器输入端，分别与所述串行输入端口连接；

所述串行测试响应比较器第一输入端与正确测试响应信号串行输入端口连接，串行测试响应比较器第二输入端接所述并行测试响应比较器的第二输入端，串行测试响应比较器第三输入端接所述串行旁路寄存器输出端；

所述第一多路选择器的第一输入端接所述串行测试响应比较器输出端，第二输入端接所述测试控制寄存器输出端，输出端接所述串行输出端口。

2.根据权利要求1所述的适用于片上网络嵌入式IP核的测试壳，其特征在于，所述并行测试响应比较器包括n路并行测试单元，每路并行测试单元的第一输入端与正确测试响应信号并行输入端口连接，第1至第n-1路并行测试单元的第二输入端接扫描链输出端，第n并行测试单元的第二输入端与串行测试响应比较器连接，每路并行测试单元输出端接并行输出端口，所述n为大于1的整数。

3.根据权利要求2所述的适用于片上网络嵌入式IP核的测试壳，其特征在于，所述串行测试响应比较器为一个串行测试单元，所述串行测试单元第一输入端与正确测试响应信号串行输入端口连接，串行测试单元第二输入端与第n路并行测试单元的第二输入端连接，串行测试单元输出端接第一多路选择器。

4.根据权利要求3所述的适用于片上网络嵌入式IP核的测试壳，其特征在于，所述并行测试单元、串行测试单元结构相同，均包括异或门器件、多路选择器，所述异或门器件的一个输入端接正确测试响应信号，另一个输入端接测试信号；所述多路选择器的一个输入端接异或门器件输出端，另一个输入端接收旁路寄存器发出的指令。