[发明专利]一种应用于集成电路的芯片测试中的测试电路在审
| 申请号： | 201310221327.7 | 申请日： | 2013-06-04 |
| 公开（公告）号： | CN103336240A | 公开（公告）日： | 2013-10-02 |
| 发明（设计）人： | 童炜 | 申请（专利权）人： | 上海华力微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人： | 竺路玲 |
| 地址： | 201210 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 应用于 集成电路 芯片 测试 中的 电路 | ||
1.一种测试电路，应用于集成电路的芯片测试中，所述测试电路包括集成电路测试设备，所述集成电路测试设备上设置有DPS测试端和电源输出端，且所述电源输出端与所述芯片的电源输入端连接，其特征在于，所述测试电路还包括控制模块和DPS扩展电路模块；
所述控制模块包括至少一控制模块输出端，所述DPS扩展电路模块包括DPS扩展电路测试输入端、至少一DPS扩展电路控制输入端和至少两个DPS扩展电路测试输出端；
所述控制模块输出端与所述DPS扩展电路控制输入端连接，所述DPS扩展电路测试输入端与所述DPS测试端连接，每个所述DPS扩展电路测试输出端分别与所述芯片的一个待测管脚连接。
2.如权利要求1所述的应用集成电路测试设备的方法，其特征在于，所述集成电路测试设备中还包括数字输出模块，所述数字输出模块为所述控制模块。
3.如权利要求1所述的集成电路测试电路，其特征在于，所述DPS扩展电路模块还包括光电耦合单元、译码单元、驱动单元和继电器线圈单元。
4.如权利要求3所述的集成电路测试电路，其特征在于，所述光电耦合单元的输入端为所述DPS扩展电路控制输入端。
5.如权利要求3所述的集成电路测试电路，其特征在于，所述光电耦合单元的多个输出端分别与所述译码单元的多个输入端连接。
6.如权利要求3所述的集成电路测试电路，其特征在于，所述译码单元的多个输出端分别与所述驱动单元的多个输入端连接。
7.如权利要求3所述的集成电路测试电路，其特征在于，所述驱动单元的多个输出端分别与所述继电器线圈单元的多个输入端连接。
8.如权利要求7所述的集成电路测试电路，其特征在于，所述继电器线圈单元的多个输入端的共有端还与所述DPS扩展电路测试输入端连接。
9.如权利要求3所述的集成电路测试电路，其特征在于，所述继电器线圈单元的输出端为所述DPS扩展电路测试输出端。
10.一种应用如权利要求1-9中任意一项所述的测试电路进行集成电路中的芯片测试的方法，其特征在于，所述方法包括：
所述集成电路测试设备通过所述电源输出端向所述芯片提供电源；
所述DPS扩展电路模块将所述集成电路测试设备的测试通道扩展为多个DPS测试通道；
所述控制模块根据测试需求，通过控制每个所述DPS测试通道的断开或闭合，以对所述芯片的相应待测管脚进行测试。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华力微电子有限公司，未经上海华力微电子有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310221327.7/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
