[发明专利]一种应用于集成电路的芯片测试中的测试电路

说明书

技术领域

本发明涉及集成电路测试领域，尤其涉及一种应用于集成电路的芯片测试中的测试电路。

背景技术

随着半导体制造技术的发展，机械的使用成本在获得最大利润的影响因素中尤为重要，而在后段测试中，由于现有技术中低端的集成电路测试设备往往只具有一个PMU（Precision Measurement Unit，精密测量单元），PMU用于精确测量直流电的相关参数，既能驱动电流进入器件进行量测，又能用于给器件提供电压而量测所产生的电流，低端的集成电路测试设备中通常还包括有数量有限的DPS（Device Power Supply,电源器件）电源通道，通常为4个DPS电源通道，但是数量有限的DPS电源通道针对某些测试需求就无法进行测试。

图1是现有技术中采用低端集成电路测试设备对需要多个DPS测试通道的待测芯片进行测量的结构示意图；如图1所示，低端IC(Integrated Circuit,集成电路)测试设备包括一个PMU、4个DPS电源通道，即DPS1、DPS2、DPS3、DPS4，数字输出通道；DPS1、DPS2、DPS3作为电源通道被所需要测试的芯片的电源所占用，用以负责向芯片提供稳定的三组工作电压，此时，DPS4作为测试通道，芯片电源观测引脚Pin1通过连接DPS4测试通道从而连接到集成电路测试设备，并且PMU搭载在DPS4测试通道上，如此可以测量该芯片Pin1上输出的电压或者电流，但是由于测试设备的DPS1、DPS2、DPS3、DPS4已经完全被占用，所以，芯片Pin2、Pin3、Pin4无法连接到DPS测试通道上，从而无法连接集成电路测试设备，即无法搭载到PMU上，导致无法对芯片Pin2、Pin3、Pin4上的电压或者电流进行测量，这种情况下，通过使用高档的集成电路测试设备可以完成测试，因为高档的集成电路测试设备具有更多的PMU，从而具有更多的DPS电源通道，而高档的集成电路测试设备的成本需要百万美金，如此会导致产品的成本上升，而低端的集成电路测试设备由于受到DPS电源通道的限制，使用率降低，导致设备的浪费。

中国专利（申请号：200810001479.5）公开了一种I/O口扩展电路，包括一个输入端口，第一输出端口和第二输出端口；用于实现信号电平转换的反向驱动电路；用于实现脉冲信号转换为电平信号的第一驱动电路和第二驱动电路；所述第一驱动电路的输入端和所述输入端口相连，所述第一驱动电路的输出端和所述第一输出端相连；所述反向驱动电路的输入端和所述输入端口相连；所述反向驱动电路的输出端和所述第二驱动电路的输入端相连，所述第二驱动电路输出端和所述第二输出端口相连。

虽然上述发明通过反向驱动电路、第一驱动电路和第二驱动电路通过使用电阻、电容和三极管等简单器件，实现了I/O端口的扩展，同时成本上没有较大变化，但是上述发明仍然没有能够提供克服低端集成电路测试设备只具有少量的DPS电源通道导致的需要多个DPS测试通道进行测量的芯片无法进行测量的问题的方法，且也未能解决通常情况下只能采用耗费百万美金的高档集成电路测试设备对芯片进行测量的问题。

中国专利（申请号：200820102128.9）公开了一种可任意扩展的通道选择控制专用集成电路，其在可编程逻辑器件上设计多种功能模块，包括输入模块G1，时钟模块G2，消抖模块G3，复位模块G4，锁存输出模块G5，三态门模块G6。

上述发明提供的模块组成的电路，能选择控制的通道数可以任意扩展，方法简单，而且具有外围元件少，体积小，工作稳定可靠，抗干扰能力强的优点，但是上述发明仍然没有提供克服低端集成电路测试设备只具有少量的DPS电源通道导致的需要多个DPS测试通道进行测量的芯片无法进行测量的问题的方法，且也未能解决通常情况下只能采用耗费百万美金的高档集成电路测试设备对芯片进行测量的问题。

发明内容

针对上述存在的问题，本发明提供一种应用于集成电路的芯片测试中的测试电路，以克服现有技术中低端集成电路测试设备无法对需要多个DPS测试通道进行测量的芯片无法进行测量的问题，并且成本较低，从而解决现有技术中只能采用耗费百万美金的高档集成电路测试设备对需要多个DPS测试通道的待测芯片进行测量的问题，进而降低制造成本。

为了实现上述目的，本发明采取的技术方案为：

一种测试电路，应用于集成电路的芯片测试中，所述测试电路包括集成电路测试设备，所述集成电路测试设备上设置有DPS测试端和电源输出端，且所述电源输出端与所述芯片的电源输入端连接，其中，所述测试电路还包括控制模块和DPS扩展电路模块；