[发明专利]具有调制和校正器件的断层图像产生装置及其操作方法有效
申请号: | 201310227326.3 | 申请日: | 2013-06-08 |
公开(公告)号: | CN103622666A | 公开(公告)日: | 2014-03-12 |
发明(设计)人: | 任宰均;张在德;崔泫;朴龙根;俞贤昇;李性德;张祐荣 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社;韩国科学技术院 |
主分类号: | A61B3/14 | 分类号: | A61B3/14;A61B3/12;A61B5/00 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 鲁恭诚;全成哲 |
地址: | 韩国京畿*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 调制 校正 器件 断层 图像 产生 装置 及其 操作方法 | ||
1.一种断层图像产生装置,包括:
光源单元,发射用于扫描物体的光;
光学控制单元,控制光的传播方向;
光耦合器,对入射光进行分束并进行合束;
多个光学系统,光连接到光耦合器;
调制和校正器件,对用于扫描物体的光进行调制和校正。
2.根据权利要求1所述的断层图像产生装置,其中,调制和校正器件设置在光学控制单元和光耦合器之间。
3.根据权利要求1所述的断层图像产生装置,其中,所述多个光学系统包括:
第一光学系统,提供参考光;
第二光学系统,将光照射到物体上。
4.根据权利要求3所述的断层图像产生装置,还包括:
第三光学系统,接收由第一光学系统产生的光和由第二光学系统产生的光的干涉图样。
5.根据权利要求3所述的断层图像产生装置,其中,调制和校正器件包括在第二光学系统中。
6.根据权利要求1所述的断层图像产生装置,其中,调制和校正器件包括:
光调制器,仅对从光耦合器进入的光进行调制;
光栅,消除在光调制器中不需要产生的衍射光。
7.根据权利要求6所述的断层图像产生装置,其中,光栅具有与光调制器相同的刻线密度。
8.根据权利要求6所述的断层图像产生装置,其中,光栅具有比光调制器小的刻线密度,并且用于补偿刻线密度的差值的第一透镜和第二透镜形成在光调制器和光栅之间。
9.根据权利要求6所述的断层图像产生装置,其中,在光调制器中,从光耦合器进入的光的反射区域不同于从物体进入的光的反射区域。
10.根据权利要求1所述的断层图像产生装置,其中,调制和校正器件包括:
光调制器,对从光耦合器进入的光进行调制;
光栅,消除在光调制器中不需要产生的衍射光。
11.根据权利要求10所述的断层图像产生装置,其中,光栅具有与光调制器不同的刻线密度,并且用于补偿刻线密度的差值的第一透镜和第二透镜形成在光调制器和光栅之间。
12.根据权利要求11所述的断层图像产生装置,其中,第一光学系统包括与第一透镜和第二透镜对应的透镜。
13.根据权利要求6所述的断层图像产生装置,其中,光调制器是数字微镜器件或者空间光调制器。
14.根据权利要求3所述的断层图像产生装置,其中,第二光学系统包括:
空间光调制器,对从光耦合器进入的光进行调制;
振镜,将从空间光调制器进入的光反射到物体,并且将从物体进入的光反射到空间光调制器;
物镜,将从振镜进入的光聚焦在物体上。
15.根据权利要求1所述的断层图像产生装置,其中,调制和校正器件设置在光耦合器和物体之间。
16.根据权利要求1所述的断层图像产生装置,其中,光耦合器由光束分离器代替。
17.根据权利要求3所述的断层图像产生装置,其中,调制和校正器件设置在光耦合器和第一光学系统之间。
18.根据权利要求14所述的断层图像产生装置,其中,调制和校正器件设置在第二光学系统和光耦合器之间。
19.根据权利要求1、3、6或14所述的断层图像产生装置,其中,所述断层图像产生装置是光学相干断层扫描装置或者光学相干断层扫描显微镜。
20.一种操作断层图像产生装置的方法,所述断层图像产生装置包括发射用于扫描物体的光的光源单元、控制光的传播方向的光学控制单元、对入射光进行分束并进行合束的光耦合器以及光连接到光耦合器的多个光学系统,其中,断层图像产生装置还包括对用于扫描物体的光进行调制和校正的调制和校正器件,所述方法包括:
仅对被反射到物体的光执行光调制操作,其中,由包括在调制和校正器件中的光调制器执行光调制操作。
21.根据权利要求20所述的方法,其中,从光耦合器进入光调制器的光入射到光调制器的第一区域,从物体进入光调制器的光入射到光调制器的第二区域,第一区域和第二区域彼此分离,并且仅在第一区域中执行光调制操作。
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