[发明专利]具有调制和校正器件的断层图像产生装置及其操作方法

说明书

本申请要求分别于2012年8月23日和2012年11月14日提交到韩国知识产权局的第10-2012-0092398号和第10-2012-0129100号韩国专利申请的权益，所述韩国专利申请的公开内容通过引用被全部包含于此。

技术领域

本发明涉及具有调制和校正器件的断层图像产生装置及其操作方法，更具体地讲，涉及通过增加在物体中的穿透深度和从该物体产生的信号的幅度来产生更精确的断层图像的具有调制和校正器件的断层图像产生装置及其操作方法。

背景技术

断层扫描是一种使用穿透波来获取物体的断层图像的技术。断层扫描被用于许多领域。因此，也增加了获取更精确的断层图像的需求。具体地讲，在直接关系到人的生命的医学领域中，产生更精确的断层图像的技术已经成为重要的课题。

发明内容

本发明提供一种具有调制和校正器件的断层图像产生装置，所述断层图像产生装置通过增加在物体中的穿透深度和从该物体产生的信号的幅度来形成更精确的断层图像。

本发明还提供一种断层图像产生装置的操作方法。

其它方面将在下面的描述中被部分地阐述，部分从描述中将是显而易见的，或者可在所呈现的实施例的实践中了解到。

根据本发明的一方面，提供一种断层图像产生装置，所述断层图像产生装置包括：光源单元，发射用于扫描物体的光；光学控制单元，控制光的传播方向；光耦合器，对入射光进行分束并进行合束；多个光学系统，光连接到光耦合器；调制和校正器件，对用于扫描物体的光进行调制和校正。

调制和校正器件可设置在光学控制单元和光耦合器之间。

所述多个光学系统可包括：第一光学系统，提供参考光；第二光学系统，将光照射到物体。在这里，断层图像产生装置还可包括：第三光学系统，接收从第一光学系统产生的光和第二光学系统产生的光的干涉图样。

调制和校正器件可包括在第二光学系统中。

调制和校正器件可设置在光耦合器和光学控制单元之间。

调制和校正器件可包括：光调制器，仅对从光耦合器进入的光进行调制；光栅，消除在光调制器中不需要产生的衍射光。

光栅可具有与光调制器相同的刻线密度（狭缝密度）。

光栅可具有比光调制器小的刻线密度（狭缝密度），并且用于补偿刻线密度的差值的第一透镜和第二透镜形成在光调制器和光栅之间。

在光调制器中，从光耦合器进入的光的反射区域可不同于从物体进入的光的反射区域。

光栅可具有与光调制器不同的刻线密度（狭缝密度），并且用于补偿刻线密度的差值的第一透镜和第二透镜形成在光调制器和光栅之间。在这里，第一光学系统可包括与第一透镜和第二透镜对应的透镜。

光调制器可是数字微镜器件（DMD）或者空间光调制器（SLM）。

第二光学系统可包括：空间光调制器（SLM），对从光耦合器进入的光进行调制；振镜，将从SLM进入的光反射到物体，并且将从物体进入的光反射到SLM；物镜，将从振镜进入的光聚焦在物体上。

调制和校正器件可设置在光耦合器和物体之间。

光耦合器可由光束分离器代替。

调制和校正器件可设置在光耦合器和第一光学系统之间。

断层图像产生装置可以是光学相干断层扫描装置或者光学相干断层扫描显微镜。

根据本发明的另一方面，提供一种操作断层图像产生装置的方法，所述断层图像产生装置包括发射用于扫描物体的光的光源单元、控制光的传播方向的光学控制单元、对入射光进行分束并进行合束的光耦合器以及光连接到光耦合器的多个光学系统，其中，断层图像产生装置还包括对用于扫描物体的光进行调制和校正的光调制和校正器件，所述方法包括：仅对被反射到物体的光执行光调制操作，其中，由包括在光调制和校正器件中的光调制器执行光调制操作。

从光耦合器进入光调制器的光可入射到光调制器的第一区域，从物体进入光调制器的光可入射到光调制器的第二区域，第一区域和第二区域可彼此分离，并且可仅在第一区域中执行光调制操作。

根据本发明的实施例的断层图像产生装置可包括基于DMD的衍射校正器件。因而，期望的光学图样可穿透到物体的更深的位置。因此，可以与OCT无法观察到物体的较深位置的图像对应的清晰的断层图像。

附图说明

通过下面结合附图的实施例的描述，这些和/或其它方面将变得清楚和更容易理解，附图中：

图1是示出根据本发明的实施例的断层图像产生装置的构造的方框图；