[发明专利]半导体元件测试装置及其测试方法

权利要求书

1.一种半导体元件测试装置，其特征在于，其连结于一半导体元件测试接口，该半导体元件测试接口是撷取至少一待测半导体元件的移动产业处理器接口信号，该半导体元件测试装置包含：

一测试载板，接收该些移动产业处理器接口信号；

至少一移动产业处理器接口模块，设置于该测试载板，并对该些移动产业处理器接口信号进行解码以产生经解码的影像数据；

一缓冲模块，设置于该测试载板，并对该些影像数据进行一存取及运算程序，该缓冲模块是连接至一影像处理电脑.该影像处理电脑是利用内建的影像处理函数库来分析判读该些影像数据以产生一分析结果，并将该分析结果传送至一主电脑以显示该分析结果；以及

其中该些移动产业处理器接口模块解码多个该待测半导体元件的该些移动产业处理器接口信号，且通过该缓冲模块连接至多个该影像处理电脑。

2.根据权利要求1所述的半导体元件测试装置，其特征在于其中各个该移动产业处理器接口模块还包含一影像处理模块，该影像处理模块是可编程门阵列模块，该影像处理模块对该些移动产业处理器接口信号进行解码，再利用内建的影像处理函数库来分析判读该些影像数据以产生一分析结果，并将该分析结果传送至一主电脑以显示该分析结果。

3.根据权利要求2所述的半导体元件测试装置，其特征在于其还包含多个测试插槽，用以可替换地设置多个该测试载板。

4.根据权利要求3所述的半导体元件测试装置，其特征在于其中各个该移动产业处理器接口模块是可替换地设置于各个该测试载板。

5.根据权利要求1所述的半导体元件测试装置，其特征在于其还包含一差动缓冲模块，将该些影像数据转换为差动信号，再传送至该影像处理电脑。

6.根据权利要求5所述的半导体元件测试装置，其特征在于其中该移动产业处理器接口模块还包含一解码模块，该解码模块是可编程门阵列模块，并对该些移动产业处理器接口信号进行解码。

7.根据权利要求6所述的半导体元件测试装置，其特征在于其中该缓冲模块是可编程门阵列模块。

8.根据权利要求7所述的半导体元件测试装置，其特征在于其中该存取及运算程序是对该些影像数据的垂直同步、水平同步及时脉信号执行逻辑门运算。

9.一种半导体元件测试方法，其特征在于，其应用于一半导体元件测 试装置以对至少一待测半导体元件进行影像信号的测试，该半导体元件测试方法包含下列步骤：

利用一半导体元件测试接口撷取该些待测半导体元件的移动产业处理器接口信号；

通过该半导体元件测试装置的一测试载板接收该些移动产业处理器接口信号；

经由该半导体元件测试装置的至少一移动产业处理器接口模块对该些移动产业处理器接口信号进行解码以产生经解码的影像数据；

由该半导体元件测试装置的一缓冲模块对该些影像数据进行一存取及运算程序；

利用一影像处理电脑根据其内建的影像处理函数库来分析判读该些影像数据以产生一分析结果；

由一主电脑显示该分析结果；以及

利用该些移动产业处理器接口模块解码多个该待测半导体元件的该些移动产业处理器接口信号，且通过该缓冲模块连接至多个该影像处理电脑。

10.根据权利要求9所述的半导体元件测试方法，其特征在于其还包含下列步骤：

由各个该移动产业处理器接口模块的一影像处理模块对该些移动产业处理器接口信号进行解码，再利用内建的影像处理函数库来分析判读该些影像数据以产生一分析结果；以及

由一主电脑显示该分析结果。

11.根据权利要求9所述的半导体元件测试方法，其特征在于其还包含下列步骤：

利用该半导体元件测试装置的多个测试插槽可替换地设置多个该测试载板。

12.根据权利要求11所述的半导体元件测试方法，其特征在于其还包含下列步骤：

将各个该移动产业处理器接口模块可替换地设置于各个该测试载板上。

13.根据权利要求9所述的半导体元件测试方法，其特征在于其还包含下列步骤：

经由该半导体元件测试装置的一差动缓冲模块将该些影像数据转换为差动信号，再传送至该影像处理电脑。